中国科学技术大学俞汉青获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利一种利用三维荧光光谱瑞利散射信号估算紫外-可见吸收光谱的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116223414B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310413636.8，技术领域涉及：G01N21/31；该发明授权一种利用三维荧光光谱瑞利散射信号估算紫外-可见吸收光谱的方法是由俞汉青;陈洁洁;钱晨;杜蒙设计研发完成，并于2023-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种利用三维荧光光谱瑞利散射信号估算紫外-可见吸收光谱的方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种利用三维荧光光谱瑞利散射信号估算紫外‑可见吸收光谱的方法，是先分别采集空白对照和待测样本的三维荧光光谱，从中截取获得二者的瑞利散射谱图，再利用所采集散射谱估算待测样本的紫外‑可见吸收光谱。本发明有效利用了常被忽视的三维荧光光谱中的瑞利散射信息，估算出的紫外‑可见吸收光谱可用于三维荧光光谱的内滤效应校正或其他谱学分析，为三维荧光光谱仪的结构精简和成本减少提供了有效途径。
本发明授权一种利用三维荧光光谱瑞利散射信号估算紫外-可见吸收光谱的方法在权利要求书中公布了：1.一种利用三维荧光光谱瑞利散射信号估算紫外-可见吸收光谱的方法，其特征在于，包括如下步骤： 1准备待测样本溶液和与待测样本溶液具有相同散射性质的空白对照液； 2分别采集待测样本溶液和空白对照液在紫外至可见波长范围内的三维荧光光谱，并分别提取其瑞利散射光谱； 3依据待测样本溶液和空白对照液的瑞利散射光谱，按照式1计算待测样本在每个波长处的吸收值，获得待测样本的原始紫外-可见吸收光谱： 式中：λ为波长，Aλ为待测样本在波长λ处的吸收值，Sblankλ表示空白对照液在波长λ处的瑞利散射值，Ssampleλ表示待测样本溶液在波长λ处的瑞利散射值； 4对计算所得原始紫外-可见吸收光谱进行平滑处理和或基线矫正，得到待测样本最终的紫外-可见吸收光谱。
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