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龙图腾网获悉华北电力大学申请的专利联合自辐射光谱和成像技术测量火焰温度的方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116046173B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310108373.X，技术领域涉及：G01J5/00；该发明授权联合自辐射光谱和成像技术测量火焰温度的方法和装置是由郑树;王岩;才伟光;那洺瑒;杨宇;陆强设计研发完成，并于2023-01-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本联合自辐射光谱和成像技术测量火焰温度的方法和装置在说明书摘要公布了：本发明提供一种联合自辐射光谱和成像技术测量火焰温度的方法和装置，该方法包括：测量各波长相应的火焰发射率；测量火焰辐射强度分布；根据各波长相应的火焰发射率建立迭代辐射强度模型；根据所述火焰辐射强度分布得到的R、G、B通道中任意两通道的实际辐射强度，基于所述迭代辐射强度模型，建立残差平方迭代模型；设置火焰温度的迭代初值；根据所述火焰温度的迭代初值，基于所述残差平方迭代模型，采用牛顿迭代法进行迭代，直到所述残差平方迭代模型的结果满足收敛条件时，输出此次迭代输入所述残差平方迭代模型的火焰温度为最终的火焰温度。本发明的计算结果更精确，更符合火焰辐射规律。

本发明授权联合自辐射光谱和成像技术测量火焰温度的方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种联合自辐射光谱和成像技术测量火焰温度的方法，其特征在于，所述方法包括： 测量各波长相应的火焰发射率； 测量火焰辐射强度分布； 基于普朗克定律，根据各波长相应的火焰发射率建立迭代辐射强度模型，所述迭代辐射强度模型包括火焰温度的参数，所述迭代辐射强度模型为：其中，εi为各波长相应的火焰发射率，ηi为R、G、B三通道中任意通道的光谱响应系数，λi为波长，T为火焰温度，C1、C2为普朗克常数； 根据所述火焰辐射强度分布得到的R、G、B通道中任意两通道的实际辐射强度，基于所述迭代辐射强度模型，建立残差平方迭代模型，所述残差平方迭代模型包括火焰温度的参数，对于R、G通道，所述残差平方迭代模型为：其中，IR为R通道的实际辐射强度，IG为G通道的实际辐射强度，εi为各波长相应的火焰发射率，为R通道的光谱响应系数，为G通道的光谱响应系数，λi为波长，T为火焰温度，C1、C2为普朗克常数； 设置火焰温度的迭代初值； 根据所述火焰温度的迭代初值，基于所述残差平方迭代模型，采用牛顿迭代法进行迭代，直到所述残差平方迭代模型的结果满足收敛条件时，输出此次迭代输入所述残差平方迭代模型的火焰温度为最终的火焰温度。

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