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龙图腾网获悉中国航发控制系统研究所申请的专利基于3D动态扫描成像技术的芯片引脚共面性检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115861265B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211639146.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权基于3D动态扫描成像技术的芯片引脚共面性检测方法是由陆千里;杨国均;冯晓鹏;高明周;孙林;朱旺设计研发完成，并于2022-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于3D动态扫描成像技术的芯片引脚共面性检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于3D动态扫描成像技术的芯片引脚共面性检测方法，利用3D相机动态扫描采集芯片表面外部图像，获取芯片高精度的点云数据，对点云数据进行处理和转化，生成芯片的深度图，然后在芯片的深度图中找出芯片上表面区域和各个Pin针的顶端区域，计算各个区域的深度值，并统计各个Pin针的顶端区域的深度值与上表面深度值的差值，若某个Pin针的深度值差值不在正常范围内，则认为其存在翘曲或者不共面缺陷。本发明不仅能提高芯片引脚共面性检测的精度和稳定性，降低芯片在使用过程的故障率，提高了产品质量，降低了因芯片原因造成返修费用，而且在一定程度上避免了重大安全事故、重大设备与工程故障的发生，具有一定的应用价值和应用空间。

本发明授权基于3D动态扫描成像技术的芯片引脚共面性检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于3D动态扫描成像技术的芯片引脚共面性检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 13D相机获取芯片深度图； 2对芯片引脚进行共面性检测，具体步骤如下： 2.1判断3D相机获取芯片的深度图数据是否为空，若为空，则相机重新获取芯片的深度图；若不为空，则利用阈值处理方法提取深度图中芯片的上表面区域，并计算上表面区域的平均深度值； 2.2获取上表面区域的最小外接斜矩形，并利用最小外接斜矩形的姿态和仿射变方法换将深度图和上表面区域进行摆正，使得上表面区域的一个边处于水平； 2.3将芯片的深度图减去上表面区域，得到Pin针区域，然后统计Pin针区域的数量；若数量为2，则将Pin针区域分为左右2个区域，若数量为4，则将Pin针区域分为上下左右4个区域； 2.4统计每个区域中Pin针的数量，并计算所有Pin针的深度值；若上下区域或者左右区域中Pin针的数量不相等，则判断此芯片存在Pin针缺失或存在较大倾斜，并输出报错信息“存在Pin针缺失或较大倾斜”；否则，将上表面区域的平均深度值减去每个Pin针的深度值，得到每个Pin针与上表面的高度差； 2.5统计所有Pin针与上表面的高度差，简称为Pin针的高度差，并计算它们的中值和最大值；如果最大值减去中值小于0.05mm，则将中值设置为最大值减去0.05mm后的数值；然后统计所有Pin针的高度差与中值的差值； 2.6若某些Pin针的高度差与中值的差值大于0.0501mm，则判断这些Pin针存在翘曲现象，并输出报错信息“存在翘曲”；否则，判断所有Pin针不存在翘曲现象，并输出缺陷检测结果信息“不存在翘曲”，然后显示每个Pin针的高度差。

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