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龙图腾网获悉森思泰克河北科技有限公司申请的专利一种透镜像散校正方法、装置、终端及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115933020B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211596663.5，技术领域涉及：G02B3/02；该发明授权一种透镜像散校正方法、装置、终端及存储介质是由林建东;张恒;孙亨利;任玉松;李进强;李明;任雨杭;秦屹设计研发完成，并于2022-12-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种透镜像散校正方法、装置、终端及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种透镜像散校正方法、装置、终端及存储介质。该方法应用于一种齐明透镜，齐明透镜由前表面和后表面组成，前表面为非球面，后表面为球面，该方法包括：获取透镜参数和物点参数；基于透镜参数和物点参数对透镜进行初级像散校正和初级彗差校正，得到透镜中心厚度、前表面顶点曲率半径、后表面曲率半径和像点参数；基于费马原理，根据透镜折射率、透镜中心厚度、前表面顶点与物点所在物平面之间的距离、后表面球面顶点与像点所在像平面之间的距离和后表面曲率半径对透镜进行球差校正，得到非球面面型离散点；根据非球面面型离散点，得到非球面透镜系数。本申请能够实现透镜像散校正，提高透镜的光学特性和适用性，操作简单便捷。

本发明授权一种透镜像散校正方法、装置、终端及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种透镜像散校正方法，其特征在于，所述方法应用于一种齐明透镜，所述齐明透镜由前表面和后表面组成，所述前表面为非球面，所述后表面为球面，所述方法包括： 获取透镜参数和物点参数，所述透镜参数包括透镜折射率和透镜焦距，所述物点参数包括前表面顶点与物点所在物平面之间的距离和物点高度； 基于所述透镜参数和所述物点参数对所述透镜进行初级像散校正和初级彗差校正，得到透镜中心厚度、前表面顶点曲率半径、后表面曲率半径和像点参数，所述像点参数包括后表面球面顶点与像点所在像平面之间的距离和像点高度；其中，基于初级彗差计算公式、所述透镜参数和所述物点参数对所述透镜进行初级彗差校正，得到前表面顶点曲率半径的取值范围和透镜中心厚度；采用二分法，根据所述前表面顶点曲率半径的取值范围的两个端点计算初级像散系数，对所述前表面顶点曲率半径的取值范围进行缩小，获得目标曲率半径，并根据所述目标曲率半径和所述透镜中心厚度计算后表面曲率半径和像点参数； 基于费马原理，根据所述透镜折射率、所述透镜中心厚度、所述前表面顶点与物点所在物平面之间的距离、所述后表面球面顶点与像点所在像平面之间的距离和所述后表面曲率半径对所述透镜进行球差校正，得到非球面面型离散点； 根据所述非球面面型离散点，得到非球面透镜系数。

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