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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利一种光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115533675B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211255656.9，技术领域涉及：B24B13/00；该发明授权一种光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法是由戴一帆;胡皓;孙梓洲;彭小强;关朝亮;赖涛设计研发完成，并于2022-10-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光学元件控时磨削面形测量系统，包括床身，床身上设有沿X轴做直线运动的工件安装座和沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台，控时磨削加工平台上设有控时磨削加工装置、用于测量控时磨削加工平台在Z轴方向位移变化量δL2x,y的第一测量装置和用于测量与工件面距离L3x,y的第二测量装置。还公开了一种光学元件控时磨削面形测量方法，包括步骤：校准；提取误差；确定测量起始点及建立测量坐标系；获得工件面形实际数据。本光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法能够实现光学元件加工的在位测量，降低了因搬运和重复装夹对工件加工精度与效率的影响，提高了测量效率，做到了加工检测一体化。

本发明授权一种光学元件控时磨削面形测量系统及面形测量方法在权利要求书中公布了：1.一种光学元件控时磨削面形测量方法，其特征在于：采用光学元件控时磨削面形测量系统进行，所述光学元件控时磨削面形测量系统包括床身（6）和数控模块，所述床身（6）上设有沿X轴做直线运动的工件安装座（1）和沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台（2），所述控时磨削加工平台（2）上设有控时磨削加工装置（3）、用于测量控时磨削加工平台（2）在Z轴方向位移变化量δL2x,y的第一测量装置（4）和用于测量与工件面（A）距离L3x,y的第二测量装置（5），所述第一测量装置（4）和第二测量装置（5）均与数控模块信号连接，所述光学元件控时磨削面形测量方法包括如下步骤： 步骤S1、校准：对第一测量装置（4）和第二测量装置（5）进行标定和校准； 步骤S2、提取误差：提取工件安装座（1）在Z轴方向的跳动误差L1x,y； 步骤S3、确定测量起始点及建立测量坐标系； 步骤S4、获得工件面形实际数据：向数控模块中输入工件面形理论数据，得到控时磨削加工平台（2）的预定运行轨迹、工件安装座（1）的进给量和补偿系数k，控时磨削加工平台（2）和工件安装座（1）配合运行，测量工件面（A）每一处的测量数值ΣLx,y， ΣLx,y=L1x,y+δL2x,y+k*L3x,y，即为工件面形实际数据。

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