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龙图腾网获悉安徽中科超安科技有限公司申请的专利一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115932931B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211223756.3，技术领域涉及：G01T1/167；该发明授权一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备是由请求不公布姓名设计研发完成，并于2022-10-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备在说明书摘要公布了：本发明属于辐射探测技术领域，尤其涉及一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备。该方法包括基于辐射场的物理信息以及几何信息计算每个放射源的探测器响应函数；根据每个放射源的探测器响应函数，确定每个放射源在不同空间位置上的品质因子，基于预设条件在所有品质因子中确定至少两个优选探测点；计算任意两个优选探测点之间的相关性因子；利用探测点确认法对相关性因子进行处理，得到最终探测点。本发明基于品质因子的确定避免布置方案中可能出现的探测器对源响应弱，导致探测器浪费的现象；基于相关性因子的确定避免可能出现的多个探测器对同一放射源响应敏感，无法兼顾到各个放射源的现象。

本发明授权一种辐射场监测探测点的确定方法、系统、介质及设备在权利要求书中公布了：1.一种辐射场监测探测点的确定方法，其特征在于，包括： 步骤1，获取辐射场的物理信息以及几何信息，基于所述物理信息以及所述几何信息计算每个放射源的探测器响应函数； 步骤2，根据每个放射源的探测器响应函数，确定每个放射源在不同空间位置上的品质因子，基于预设条件在所有品质因子中确定至少两个优选探测点； 步骤3，计算任意两个优选探测点之间的相关性因子； 步骤4，利用探测点确认法对相关性因子进行处理，得到最终探测点； 所述步骤2具体为： 通过第一公式计算每个放射源在不同空间位置上的品质因子FOMr，所述第一公式为： 其中，fir为放射源Si全空间各位置r处的探测器响应函数，N为放射源个数； 所述预设条件为：降序排列品质因子，将选取的预设数量的品质因子对应的放射源所对应的空间位置作为优选探测点，基于预设条件在所有品质因子中确定至少两个优选探测点； 所述步骤4具体为： 所述探测点确认法为： 将相关性因子最大的两个优选探测点作为第一批最终探测点，将剩余所有非第一批最终探测点的优选探测点作为待探测点集，分别计算所述待探测点集中每个优选探测点与每个第一批最终探测点之间的第一相关性因子，基于第一相关性因子确认所述待探测点集中每个优选探测点的相关性因子之和，将所述相关性因子之和最大的优选探测点确定为新最终探测点，将所述新最终探测点与相关性因子最大的两个优选探测点作为新第一批最终探测点； 重复所述探测点确认法直至所述新第一批最终探测点的个数满足预设要求，将满足预设要求的所述新第一批最终探测点作为最终探测点。

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