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龙图腾网获悉中核四0四有限公司申请的专利一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115356360B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210873532.0，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法是由张石凯;张广军;张庆桂;那娟娟;王涛;杨兴旺;朱勇;刘鑫设计研发完成，并于2022-07-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及核分析技术领域，具体公开了一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法，包括以下步骤：第一步：测量基体元素A的系列标准溶液，记录每一次测量时基体元素A的峰面积或峰高SiA以及待测元素B的峰面积或峰高SiB；第二步：建立SiA与SiB的关系式；第三步：测量待测元素B的系列标准溶液，浓度依次为CiB；同时记录每一次测量时待测元素B的峰面积或峰高SiB1以及基体元素A的峰面积或峰高SiA1；第四步：用SiA1代入SiA与SiB关系式中的SiA，同时用SiB1减去SiA与SiB关系式中的SiB，得ΔSiB；第五步：由CiB与ΔSiB建立数学关系，即为消除基体元素A干扰后的、待测元素B的最终工作曲线。本发明方法应用广泛、使用简单，可以有效消除基体元素干扰。

本发明授权一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法在权利要求书中公布了：1.一种基于能谱分析消除基体元素干扰的方法，其特征在于：令基体元素为A、待测元素为B、标样编号i＝1,2,3,4,5,6,……； 包括以下步骤： 第一步：测量基体元素A的系列标准溶液，同时记录每一次测量时基体元素A的峰面积或峰高SiA以及待测元素B的峰面积或峰高SiB； 第二步：根据第一步的测量结果建立SiA与SiB的关系式； 第三步：测量待测元素B的系列标准溶液，浓度依次为CiB；同时记录每一次测量时待测元素B的峰面积或峰高SiB1以及基体元素A的峰面积或峰高SiA1； 第四步：用第三步测得SiA1代入SiA与SiB关系式中的SiA，同时用SiB1减去SiA与SiB关系式中的SiB，得ΔSiB； ΔSiB为待测元素B扣除本底后的峰面积或峰高； 第五步：由第三步的CiB与第四步的ΔSiB建立数学关系，即为消除基体元素A干扰后的、待测元素B的最终工作曲线。

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