买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉国家纳米科学中心申请的专利一种基于泵浦探测的成像光谱系统、检测成像方法及应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115112578B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210849506.4，技术领域涉及：G01N21/25；该发明授权一种基于泵浦探测的成像光谱系统、检测成像方法及应用是由岳帅;刘新风;吴宪欣;吴科明设计研发完成，并于2022-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于泵浦探测的成像光谱系统、检测成像方法及应用在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于泵浦探测的成像光谱系统、检测成像方法及应用，基于泵浦探测的成像光谱系统包括光源组件、第一分束镜、激发单元、探测单元、合束镜、第二分束镜、信号参照单元与显像单元；光源组件用于发出飞秒激光，飞秒激光经过第一分束镜后分为两路光束；一路光束进入激发单元内形成泵浦光束，并依次经过合束镜与第二分束镜后分束得到聚焦光束与参考光束，聚焦光束射入显像单元内激发待测样品，参考光束用于判断信号的正负；另一路光束进入探测单元内形成具有时间延迟性的探测光束，再经过合束镜入射至显像单元内探测待测样品并成像。本发明实现了高时间分辨率和高空间分辨率，能够进行载流子输运的超快显微成像测量。

本发明授权一种基于泵浦探测的成像光谱系统、检测成像方法及应用在权利要求书中公布了：1.一种基于泵浦探测的成像光谱系统，其特征在于，所述的基于泵浦探测的成像光谱系统包括光源组件、第一分束镜、激发单元、探测单元、合束镜、第二分束镜、信号参照单元与显像单元； 所述的激发单元包括斩波装置，所述的斩波装置用于将飞秒激光的一路光束切光得到泵浦光束； 所述斩波装置的工作频率为所述飞秒激光的脉冲重复频率的一半； 所述探测单元包括依次设置的电控位移台与第一透镜； 所述的电控位移台用于输出时间延迟的探测光束，所述探测光束通过所述第一透镜后预聚焦射入至所述合束镜中； 所述的电控位移台包括驱动装置与中空角镜，所述驱动装置用于驱动中空角镜移动，所述的中空角镜用于实现激光回射；所述驱动装置为步进电机，所述步进电机的步长≥100nm； 所述的显像单元包括第三分束镜、显微物镜、样品台、滤光片、第二透镜与CMOS相机；所述CMOS相机的空间分辨能力为20～23nm；所述CMOS相机的帧频与所述飞秒激光的重复频率相同，且工作在外触发模式；CMOS相机接收反射回的探测光束对载流子分布进行成像，并在部分区域对泵浦光束感光，以判断信号的正负； 所述的光源组件用于发出飞秒激光，所述飞秒激光经过所述第一分束镜后分为两路光束； 一路光束进入所述激发单元内形成泵浦光束，所述泵浦光束依次经过所述合束镜与第二分束镜后分束得到聚焦光束与参考光束，所述聚焦光束射入所述显像单元内激发待测样品，所述聚焦光束照射在待测样品上形成第一光斑，所述参考光束经过所述信号参照单元后进入所述显像单元内，所述显像单元对所述参考光束感光，所述参考光束形成第二光斑，以判断信号的正负；所述判断信号的正负是指判断是否有聚焦光束激发待测样品，当参考光束感光后成像的强度为正值时，表示有聚焦光束激发待测样品，载流子浓度为正，当强度为0时，代表没有聚焦光束激发待测样品，载流子浓度为0；所述的信号参照单元包括第三透镜，所述参考光束经过所述第三透镜后入射至所述CMOS相机中成像； 另一路光束进入探测单元内形成具有时间延迟性的探测光束，所述探测光束经过所述合束镜入射至所述显像单元内探测待测样品，所述探测光束照射在所述第一光斑上形成探测光圈，通过连续两帧的探测光圈的反射率差值，进行电荷载体的可视化探测，实现载流子的产生、传输及耗散过程的监测； 聚焦光束聚焦成像形成的第一光斑为点光斑，探测光束聚焦成像形成的探测光圈为较大的圆形光圈。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人国家纳米科学中心，其通讯地址为：100190 北京市海淀区中关村北一条11号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。