买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利一种计算相互依存电路网络容错性能的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115292859B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210827978.X，技术领域涉及：G06F30/18；该发明授权一种计算相互依存电路网络容错性能的方法是由李西峰;谢永乐;彭礼彪;毕东杰;刘畅设计研发完成，并于2022-07-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种计算相互依存电路网络容错性能的方法在说明书摘要公布了：该发明公开了一种计算相互依存电路网络容错性能的方法，相互依存电路网络的容错性、鲁棒性及可靠性领域。大多数依存网络在现实世界中并不脆弱。因此，为了找到更精确的模型来说明实际级联故障的机制，深入确定容错分配与相互依存网络鲁棒性之间的关系，从而解决计算相互依存电路网络容错性能的问题。通过本发明计算的联合电路容错性能，实时改变电路结构或电路中节点能力，最大化联合电路的容错能力，增加联合电路的鲁棒性和稳定性。

本发明授权一种计算相互依存电路网络容错性能的方法在权利要求书中公布了：1.一种计算相互依存电路网络容错性能的方法，该方法基于以下基础： 第一：节点依存是分层的，即如果节点a的行为部分受另一个节点b的影响，那么称节点a部分依存于节点b；另一方面，如果节点a的行为完全由节点b控制，则称节点a完全依存于节点b； 第二：网络中的每个节点都具有容错性； 第三：网络中的每个节点具有不同的容错能力； 第四：节点的容错能力与节点在网络中的重要性密切相关； 第五：节点的度与其容错性相关，这种关系分为三类：正相关、负相关和随机相关，正相关表示高度的节点意味着高容错能力，低度的节点意味着低容错能力；负相关表示高度的节点意味着低容错能力，低度的节点意味着高容错能力；随机相关表示度与节点的容错能力之间的关系是随机的； 该方法包括： 步骤1：计算电路A和电路B的度分布母函数； G0Aξ＝∑kPAkξk G0Bξ＝∑kPBkξk 其中，PAk表示电路A的节点度分布，PBk表示电路B的节点度分布，ξk表示第k个节点变量； 计算电路A和电路B的底层分支过程生成函数， G1Aξ＝G′0AξG′0A1 G1Bξ＝G′0BξG′0B1 其中，G1Aξ表示电路A的底层分支过程生成函数，G1Bξ表示电路B的底层分支过程生成函数，G′0Aξ，G′0Bξ分别表示G0Aξ、G0Bξ关于ξ的一阶导数，G′0A1、G′0B1分别表示G′0Aξ和G′0Bξ在ξ＝1时的函数值； 步骤2：在电路A和电路B中随机选择一个节点开始，计算电路A和电路B的最大连接分支的体积； 1电路A和电路B中节点的度与其容错性正相关时； 步骤2.1.1，通过如下两式联合计算电路A和电路B中随机选择一条链路出现最大连通分支的概率； 其中，RA、RB表示电路A、电路B中随机选择一条链路出现最大连通分支的概率，p[1-G1A1-RA]、p[1-G1B1-RB]表示电路A、电路B从随机选择的节点开始随机选择的链路导致电路A出现最大连通分支的概率，表示从电路a中随机选择的节点开始随机选择的链路导致电路A出现最大连通分支的概率，α表示当前电路节点的容错能力，电路a属于电路A，上标*表示可达极大簇的随机边，p[1-G0A1-RA]表示与给定节点相依的节点的生存概率； 其中，kmax表示对应电路中节点的最大阶数，pk表示度为k的节点出现的概率，表示随机选择的节点的度，k表示平均度数； 步骤2.1.2：计算电路A和电路B的最大连接分支的体积； 其中，p[1-G0A1-RA]表示与给定节点相依的节点的生存概率，表示与随机选择节点相依的节点的生存概率； 2电路A和电路B中节点的度与其容错性负相关时； 步骤2.2.1，通过如下两式联合计算电路A和电路B中随机选择一条链路出现最大连通分支的概率； 步骤2.2.2：计算电路A和电路B的最大连接分支的体积； 3电路A和电路B中节点的度与其容错性随机相关时； 步骤2.3.1，通过如下两式联合计算电路A和电路B中随机选择一条链路出现最大连通分支的概率； RA＝p[G11-RA]·[1-G01-RB]+p·α[1-G11-αRA]·G01-RB·1-p RB＝p[1-G11-RB]·[1-G01-RA]+α[1-G11-αRB]·{1-p[1-G01-RA]}·1-p 步骤2.3.2：计算电路A和电路B的最大连接分支的体积； SA＝p[G0A1-RA]·[1-G0B1-RB]+p·[1-G0A1-αRA]·G0B1-RB·1-p SB＝p[1-G0B1-RB]·[1-G0A1-RA]+[1-G0B1-αRB]·{1-p[1-G0A1-RA]}·1-p 步骤3：将步骤2计算得到的电路A和电路B的最大连接分支的体积相加与阈值相比较，大于阈值则认为电路A和电路B的联合容错性能差，否则容错性能好。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人电子科技大学，其通讯地址为：611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。