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龙图腾网获悉中国科学院高能物理研究所申请的专利一种微通道板准直器X射线检测装置及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115015295B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210518495.1，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权一种微通道板准直器X射线检测装置及检测方法是由雒涛;徐玉朋;何会林;李天明;戚力强;李刚;张爱梅;杨生设计研发完成，并于2022-05-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种微通道板准直器X射线检测装置及检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种微通道板准直器X射线检测装置及检测方法，包括X射线源、载物台、准直器、X光相机和屏蔽装置，所述载物台上设有通孔，所述准直器设在载物台上，位于载物台的后侧，所述X射线源和X光相机分别设在准直器的前后方，所述X射线源、准直器和X光相机位于同一轴线上。本发明的检测装置明显缩短了X射线源和X光相机之间的距离，进而减小了检测装置的体积，降低成本；其使用方法通过一次测量即可得出二维的摇摆曲线，而且光源距离近，粒子通量大，单次测量时间短，有效提升检测作业效率，同时减少了人员暴露的危险。

本发明授权一种微通道板准直器X射线检测装置及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种微通道板准直器X射线检测装置的检测方法，其特征是，检测装置包括X射线源（1）、载物台（2）、准直器（3）、X光相机（4）和屏蔽装置，所述载物台（2）上设有通孔，所述准直器（3）设在载物台（2）上，位于载物台（2）的后侧，所述X射线源（1）和X光相机（4）分别设在准直器（3）的前后方，所述X射线源（1）、准直器（3）和X光相机（4）位于同一轴线上； 所述X射线源（1）发射点光源，所述X光相机接收X射线并成像，所述X射线源（1）和X光相机（4）之间的距离为L，采用如下公式确定距离L： tgθ=dL 式中，θ为系统测量的角度分辨率，d为X光相机的像素尺寸； 检测方法包括以下步骤： S1，系统准备：根据测量精度的要求，调整X射线源（1）、载物台（2）和X光相机（4）的相对位置，并保证位于同一轴线上，调整完毕后安装准直器（3）； S2，连接系统：将X射线源（1）、载物台（2）和X光相机（4）均与测试系统进行连接； S3，进行测试：运行X射线源（1）和X光相机（4），X光相机（4）接收X射线并成像； S4，结果转换：根据X光相机（4）成像的虚拟原始图像进行转换得到PicC亮度分布三维图，根据PicC亮度分布三维图得出准直器（3）的参数指标，并与预期值进行比对； 步骤S4中，PicC亮度分布三维图水平方向的空间坐标为X射线的入射光倾角；PicC亮度分布三维图的峰值为准直器（3）的开口面积比参数；PicC亮度分布三维图的峰值所处位置对应的角度值为准直器（3）的指向精度参数，PicC亮度分布三维图峰值的半宽高为准直器（3）的视场参数。

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