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龙图腾网获悉安庆师范大学申请的专利一种有效关键面积参数向量集重排序方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114839518B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210421043.1，技术领域涉及：G01R31/3181；该发明授权一种有效关键面积参数向量集重排序方法及系统是由詹文法;张鲁萍;江健生;蔡雪原;郑江云;章礼华;冯学军;余储贤;胡心怡设计研发完成，并于2022-04-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种有效关键面积参数向量集重排序方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种有效关键面积参数向量集重排序方法及系统包括：获取被测集成电路的电路描述语言，据以利用测试向量生成工具ATPG生成针对该所述被测集成电路的测试向量集；对所述被测集成电路的模拟电路进行故障注入，获取并根据当前所述模拟电路中的测试响应值判断该所述被测集成电路是否存在故障；参照所述被测集成电路的结构图，处理不同单元电路中所含晶体管的总关键面积相对于该单元电路的面积覆盖，统计所述测试向量集中的每条测试向量命中故障的次数，据以处理得到测试特征值，按照所述测试特征值排序处理所述测试向量，以重排序测试向量集，用以测试所述被测集成电路。本发明解决了集成电路测试成本高、测试效率低及测试准确率低的技术问题。

本发明授权一种有效关键面积参数向量集重排序方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种有效关键面积参数向量集重排序方法，其特征在于，所述方法包括： S1、获取被测集成电路的电路描述语言，利用硬件描述语言描述所述被测集成电路，据以利用测试向量生成工具ATPG生成针对该所述被测集成电路的测试向量集； S2、对所述被测集成电路的模拟电路进行故障注入，获取当前所述被测集成电路中的测试响应值，对比所述测试响应值与正常电路测试响应值，据以判断所述被测集成电路是否存在故障； S3、参照所述被测集成电路的结构图，处理不同单元电路中所含晶体管的总关键面积相对于该单元电路的面积覆盖，统计所述测试向量集中的每条测试向量命中故障的次数，据以处理得到测试特征值，按照所述测试特征值排序处理所述测试向量，以重排序测试向量集，用以测试所述被测集成电路； 包括：S31、获取模拟电路中的各类晶体管的特征尺寸； S32、获取所述模拟电路的各电路单元占比数据； S33、处理所述模拟电路中的结构图，以得到各所述单元电路的晶体管总关键面积数据以及单元电路面积数据； S34、处理所述晶体管总关键面积数据以及所述单元电路面积数据，以得到所述被测集成电路中的不同所述单元电路的相对面积覆盖数据； S35、统计对所述模拟电路进行的模拟故障测试过程中的每条所述测试向量的命中次数； S36、根据所述命中次数估算各所述测试向量的所述测试特征值，根据所述测试特征值的大小排序所述测试向量，以得到所述重排序测试向量集。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人安庆师范大学，其通讯地址为：246133 安徽省安庆市菱湖南路128号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。