西安电子科技大学李轩获国家专利权
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龙图腾网获悉西安电子科技大学申请的专利一种能够表征目标绝对深度的偏振三维成像方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114758060B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210255211.4,技术领域涉及:G06T17/00;该发明授权一种能够表征目标绝对深度的偏振三维成像方法是由李轩;刘志强;邵晓鹏;刘飞;蔡玉栋;蔡国成设计研发完成,并于2022-03-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种能够表征目标绝对深度的偏振三维成像方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种能够表征目标绝对深度的偏振三维成像方法,包括:获取目标不同偏振角度下的偏振图像;获取偏振图像中目标物体表面每个像素点处的偏振度;获取目标表面不同像素点处的方位角初始值以及入射角初始值;对方位角初始值和入射角初始值进行校正;利用校正后的方位角和入射角对目标表面每个像素点构建法向量;利用法向量积分进行目标三维轮廓的重建,获得目标的表面函数;结合相机的标定和表面函数,获得目标的绝对深度信息。本发明以目标表面法向量沿深度方向分量为单位重新表征目标表面法向量,基于该表面法向量重构的三维模型与目标绝对深度信息为确定的变化关系,打破了传统偏振三维成像显示深度为相对深度的局限。
本发明授权一种能够表征目标绝对深度的偏振三维成像方法在权利要求书中公布了:1.一种能够表征目标绝对深度的偏振三维成像方法,其特征在于,包括: 利用偏振三维成像系统获取目标不同偏振角度下的偏振图像; 获取偏振图像中目标物体表面每个像素点处的偏振度; 根据所述偏振图像和所述偏振度,获取目标表面不同像素点处的方位角初始值以及入射角初始值; 对所述方位角初始值和所述入射角初始值进行校正,获得校正后的方位角和入射角; 利用校正后的方位角和入射角对目标表面每个像素点构建法向量; 利用法向量积分进行目标三维轮廓的重建,获得目标的表面函数; 结合所述偏振三维成像系统中相机的标定和所述表面函数,获得目标的绝对深度信息, 其中,对所述方位角初始值和所述入射角初始值进行校正,包括: 对所述方位角初始值的多值性问题进行校正,获得校正后的方位角,校正公式表示为: 其中,GN表示利用目标表面强度信息求解得到的梯度场变化参考信息,Gpolar表示利用目标反射光偏振信息求解得到的梯度场参量,表示二范数运算,若则所述方位角初始值即为校正后的方位角,若则将所述方位角初始值进行180°翻转获得校正后的方位角; 利用优化算法对邻近90°预定范围内的所述入射角初始值进行优化以避免tanθ出现极大值情况,获得优化后的入射角θ, 所述优化算法为: 其中,fx为输入的入射角初始值,取3个值分别记为T1,T0,T*,T1选取85.5°,T*选取85°,T0选取84.5°,其中,T0趋近于T*; 获得优化后的入射角为: 其中,所述优化算法用于将输入的入射角初始值在85°-90°之间的值削减为85°,在85°附近及小于85°均保持不变。
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