中国科学院微电子研究所马子仪获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114487509B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210125483.2，技术领域涉及：G01R1/04；该发明授权一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备是由马子仪;赵发展设计研发完成，并于2022-02-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备，涉及芯片技术领域。方法包括：遍历所有输入接口，多次分别确定每个输入接口为处于正常工作状态下的目标待测输入接口时对应的待测芯片固件的磁场图像数据；基于多个磁场图像数据，确定待测芯片中同一位置不同导线的深度分布数据；基于待测芯片中同一位置不同导线的深度分布数据，确定待测芯片固件的配置信息流的流动方向；基于金刚石氮空位色心传感器对待测芯片进行扫描，基于分析配置信息流的流动方向完成对待测芯片固件的定位分析，可以在不损坏待测芯片的情况下实现对待测芯片内寄存器的定位，提高了固件定位分析的准确性和可靠性。
本发明授权一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片固件定位分析方法，其特征在于，应用于包括金刚石氮空位色心传感器和设置在所述金刚石氮空位色心传感器上的待测芯片的电子设备中，所述待测芯片包括芯片固件和多个输入接口，所述方法包括： 在将所述待测芯片设置为初始状态的情况下，控制多个所述输入接口中每次存在一个处于正常工作状态的目标待测输入接口； 遍历所有所述输入接口，多次分别确定每个所述输入接口为处于正常工作状态下的所述目标待测输入接口时对应的所述芯片固件的磁场图像数据； 基于多个所述磁场图像数据，确定所述待测芯片中同一位置不同导线的深度分布数据； 基于所述待测芯片中同一位置不同导线的所述深度分布数据，结合相邻两次的所述磁场图像数据，确定所述芯片固件的配置信息流的流动方向； 基于所述金刚石氮空位色心传感器对所述待测芯片进行扫描，基于分析配置信息流的流动方向完成对所述芯片固件的定位分析。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院微电子研究所，其通讯地址为：100029 北京市朝阳区北土城西路3号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号