Document
拖动滑块完成拼图
个人中心

预订订单
服务订单
发布专利 发布成果 人才入驻 发布商标 发布需求

在线咨询

联系我们

龙图腾公众号
首页 专利交易 IP管家助手 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索
当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 中国科学院上海技术物理研究所何志平获国家专利权

中国科学院上海技术物理研究所何志平获国家专利权

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利利用明暗均匀区域进行成像光谱仪图像非均匀性校正方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116109491B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111324633.4,技术领域涉及:G06T5/80;该发明授权利用明暗均匀区域进行成像光谱仪图像非均匀性校正方法是由何志平;吴兵;刘成玉;徐睿设计研发完成,并于2021-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

利用明暗均匀区域进行成像光谱仪图像非均匀性校正方法在说明书摘要公布了:本发明提出了一种利用明暗均匀区域进行成像光谱仪图像非均匀性校正方法。方法包括:在实验室获得校正系数进行初步探测器像元校正;利用系数校正后的不受条带噪声影响的谱段选择均匀的明、暗区域;利用改进的迭代法进行阈值约束去除明暗均匀区域的异常信号求得稳定的参考值;利用参考值计算空间维所有像元的增益与偏置,最终实现全图全谱段非均匀性的校正。该方法只需输入一副符合要求的非均匀性图像,即可快速得到较好的校正结果,计算复杂度低,校正速度快。

本发明授权利用明暗均匀区域进行成像光谱仪图像非均匀性校正方法在权利要求书中公布了:1.一种利用明暗均匀区域进行成像光谱仪图像非均匀性校正方法,其特征在于包括以下步骤: 步骤一,基于实验室非均匀性校正系数的初校正; 步骤二,初步明暗均匀区域的选择; 步骤三,对图像全谱段进行迭代得到均匀区域参考值; 步骤四,利用参考值计算得到非均匀性校正系数; 步骤三所述的对图像全谱段进行迭代得到均匀区域参考值,其步骤如下:设置一个初始阈值T0,把背景区域图像的所有像素点分成两类,一类的像素值均小于等于T0,另一类的前景区域像素值均大于T0,分别计算背景区域与前景区域的像素平均值m0、m1,为求得的阈值更接近高频区域的像素值,令T1i=m0+m1-m0*0.9=m0*0.1+m1*0.9 再计算背景区域与前景区域的像素平均值n0、n1,目的是求得的阈值更接近阴影等更低频区域的像素值,令 T2i=n0+n1-n0*0.1=n0*0.9+n1*0.1 两次结束迭代条件相同,即使迭代得到的阈值与上一轮迭代的阈值小于10-4;则在阈值T1与T2之间的像元为获得对应的真实背景,即理想均匀区域值; 步骤四所述的利用参考值计算得到非均匀性校正系数,步骤如下所示:对得到明暗两处的均匀区域求其均值: 在明亮区域时: YH=GijkRijkEH+Oijk 在暗区域时: YL=GijkRijkEL+Oijk 则由公式得: 其中,式中RijkEH和RijkEL分别为像元i,j,k在明暗均匀区域辐射背景下的响应;YH和YL分别为明暗均匀区域辐射背景下的均值;Gi,j,k和Oi,j,k为像元i,j,k的增益和偏置,即为校正系数; 最后,根据公式获得均匀性校正的图像: D′i,j,k=Gi,j,k*Di,j,k+Oi,j,k D′i,j,k为校正后像元值;Di,j,k为原始像元值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海技术物理研究所,其通讯地址为:200083 上海市虹口区玉田路500号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。