北京卓立汉光分析仪器有限公司;北京卓立汉光仪器有限公司石广立获国家专利权
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龙图腾网获悉北京卓立汉光分析仪器有限公司;北京卓立汉光仪器有限公司申请的专利光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113237549B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110603388.4,技术领域涉及:G01J3/28;该发明授权光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置是由石广立;蔡宏太;王冰设计研发完成,并于2021-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置在说明书摘要公布了:本申请实施例提供一种光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置,所述方法包括;获取待测光谱打在探测器不同位置时的效率;构建一斜弧面,并根据所述斜弧面对所述待测光谱进行校正操作,其中,所述斜弧面的长度方向值和高度方向值的数值对应关系由所述待测光谱打在探测器不同位置时的效率确定;本申请能够快速、准确和便捷的对光谱进行校正,以使当前波长打在探测器的不同像素上时其效率保持基本一致,最终使两次摄谱完美的拼接在一起。
本发明授权光谱校正方法、校正装置及光谱采集装置在权利要求书中公布了:1.一种光谱校正方法,其特征在于,所述方法包括; 获取待测光谱打在探测器不同位置时的效率; 构建一斜弧面,并根据所述斜弧面对所述待测光谱进行校正操作,其中,所述斜弧面的长度方向值和高度方向值的数值对应关系由所述待测光谱打在探测器不同位置时的效率确定;所述斜弧面的曲线满足公式y=ax4+bx3+cx2+dx+e,其中,a、b、c、d、e为无量纲系数,通过最小二乘法解得a、b、c、d、e的值,所述x为所述斜弧面的长度方向值,所述y为所述斜弧面的高度方向值。
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