华邦电子股份有限公司赖志强获国家专利权
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龙图腾网获悉华邦电子股份有限公司申请的专利芯片测试装置及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115236480B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110442216.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权芯片测试装置及系统是由赖志强;黄成庆设计研发完成，并于2021-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试装置及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种芯片测试装置及系统，适用于对芯片群组中的多个芯片进行测试。芯片测试装置包括信号接口以及测试设计电路。信号接口将来自测试设备的输入信号及多个驱动信号并列传送至每个芯片。测试设计电路通过信号接口接收来自芯片的多个输出信号，并且根据输出信号串行输出测试数据至测试设备。
本发明授权芯片测试装置及系统在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试装置，适用于对芯片群组中的多个芯片进行测试，所述芯片测试装置包括： 信号接口，耦接所述芯片群组中的所述多个芯片，将来自测试设备的输入信号及多个驱动信号并列传送至每个芯片；以及 测试设计电路，耦接所述信号接口，通过所述信号接口接收来自所述多个芯片的多个输出信号，并且根据所述多个输出信号串行输出测试数据至所述测试设备， 所述信号接口包括： 缓冲电路，耦接每个芯片以及所述测试设计电路， 其中，所述缓冲电路反应于从所述多个芯片传送的多个输出致能信号而将从所述多个芯片输出的所述多个输出信号并列传送至所述测试设计电路，所述测试设计电路反应于所述多个驱动信号中的时钟信号将所述多个输出信号依序作为所述测试数据串行传送至输入输出接垫，以串行输出所述测试数据至所述测试设备。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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