株式会社电装清野光宏获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社电装申请的专利光学式检测装置以及光学式检测装置中的光轴偏移判定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115176171B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180016629.3，技术领域涉及：G01S7/497；该发明授权光学式检测装置以及光学式检测装置中的光轴偏移判定方法是由清野光宏设计研发完成，并于2021-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学式检测装置以及光学式检测装置中的光轴偏移判定方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种光学式检测装置10。光学式检测装置10具备：发光部30，具备多个发光元件32；受光部20，具备受光元件阵列22，该受光元件阵列22由接受与发光部30的照射光相应的反射光的多个受光像素形成；储存部，储存与发光部30的照射光所包含的光强度斑的产生位置对应的受光元件阵列22中的基准受光区域；以及判定部100，使用基准受光区域和受光元件阵列22中的照射光的反射光所包含的光强度斑的检测受光区域的位置偏移来判定光轴偏移。
本发明授权光学式检测装置以及光学式检测装置中的光轴偏移判定方法在权利要求书中公布了：1.一种光学式检测装置，具备： 发光部，具备多个发光元件； 受光部，具备受光元件阵列，上述受光元件阵列由接受与上述发光部的照射光相应的反射光的多个受光像素形成； 储存部，储存与上述发光部的照射光所包含的光强度斑的产生位置对应的上述受光元件阵列中的基准受光区域；以及 判定部，使用上述基准受光区域和上述受光元件阵列中的上述照射光的反射光所包含的光强度斑的检测受光区域的相互位置是否一致的上述光强度斑的偏移来判定光轴偏移， 上述光强度斑是由上述多个发光元件的照射光的重叠区域与上述多个发光元件的照射光的非照射区域的各区域的发光强度的高低差形成的。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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