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龙图腾网获悉陕西澳威激光科技有限公司申请的专利一种光模块封装材料缺陷检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120355706B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510837375.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种光模块封装材料缺陷检测方法是由石元;杜琪;高星;王苑亮设计研发完成，并于2025-06-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光模块封装材料缺陷检测方法在说明书摘要公布了：本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种光模块封装材料缺陷检测方法；基于分割阈值对图像进行分割，形成多个分割区域；对于各分割区域，基于各分割区域中像素点的灰度特征，计算当前分割区域划分的区域合理度，将各区域合理度的乘积作为分割区间合理度；响应于分割区间合理度大于预设的合理阈值，将分割后的图像作为分割图像进行缺陷检测；响应于分割区间合理度小于等于预设的合理阈值，优化分割阈值，获取最优分割边界，将基于最优分割边界分割的图像作为分割图像，基于分割图像进行缺陷检测。本申请具有提高光模块封装材料表面腐蚀区域识别和提取的准确度的效果。

本发明授权一种光模块封装材料缺陷检测方法在权利要求书中公布了：1.一种光模块封装材料缺陷检测方法，其特征在于，包括步骤：获取光模块封装材料表面图像的灰度直方图，确定灰度直方图中的两个峰值点的位置；两个峰值点包括第一峰值点和第二峰值点，第一峰值点对应的灰度值小于第二峰值点对应的灰度值；基于两个峰值点的位置确定两个分割阈值，两个分割阈值分别为左分割阈值和右分割阈值；将第一峰值点和第二峰值点之间的最低谷点的灰度值作为左分割阈值；获取灰度直方图的一阶导数，将直方图中灰度值大于第二峰值点的区域中的一阶导数的最小值对应的位置的灰度值作为右分割阈值；基于分割阈值对图像进行分割，形成多个分割区域；对于各分割区域，基于各分割区域中像素点的灰度特征，计算当前分割区域划分的区域合理度，具体包括：基于分割区域中的像素点进行区域生长，得到多个疑似区域，计算疑似区域的局部合理度，将多个局部合理度的均值作为分割区域对应的区域合理度；其中，分割区域包括：腐蚀区域、阴影区域以及背景区域；将各区域合理度的乘积作为分割区间合理度；响应于分割区间合理度大于预设的合理阈值，将分割后的图像作为分割图像进行缺陷检测；响应于分割区间合理度小于等于预设的合理阈值，优化分割阈值，获取最优分割边界，具体包括：两个分割阈值之间构成阴影灰度区间；在预设范围内滑动阴影灰度区间的边界，构建调整区间，并计算调整区间对应的区间权重；获取调整区间对应的分割区域的区域合理度，将区域合理度与对应区间权重的乘积作为该调整区间的认可度；将认可度最大阴影灰度区间作为最优区间，将最优区间的边界值作为最优分割边界，将基于最优分割边界分割的图像作为分割图像，基于分割图像进行缺陷检测。

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