沐曦集成电路(上海)股份有限公司王定获国家专利权
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龙图腾网获悉沐曦集成电路(上海)股份有限公司申请的专利芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120234256B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510726153.2,技术领域涉及:G06F11/3668;该发明授权芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质是由王定;郭小新设计研发完成,并于2025-06-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质在说明书摘要公布了:本发明涉及芯片技术领域,尤其涉及一种芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质,方法包括步骤S1、构建目标测试用例重构结构{C0,(C1,B1),C2,B2,...,Cn,Bn,...,CN,BN};步骤S2、解析所述目标测试用例重构结构,获取C0,然后并行获取每一Cn和Bn;步骤S3、并行解析每一Bn,获取每一Fi n;步骤S4、基于每一Fi n、Fi n对应的Cn、C0生成待测芯片设计的所有芯片测试用例。本发明提高了芯片测试用例的构建效率和准确性。
本发明授权芯片测试用例的构建方法、电子设备和介质在权利要求书中公布了:1.一种芯片测试用例的构建方法,其特征在于,包括: 步骤S1、构建目标测试用例重构结构{C0,(C1,B1),C2,B2,...,Cn,Bn,...,CN,BN},C0为待测芯片设计对应的共享测试用例配置信息,Cn为待测芯片设计的第n个子设计对应的共享测试用例配置信息,Bn为待测芯片设计的第n组测试用例重构信息列表,n的取值范围为1到N,N为待测芯片设计的子设计总数,Bn={F1 n,F2 n,...,Fi n,...,Fan n},Fi n为第n组测试用例重构信息列表中的第i个测试用例重构信息,i的取值范围为1到an,an为Bn对应的测试用例重构信息总数; 步骤S2、解析所述目标测试用例重构结构,获取C0,然后并行获取每一Cn和Bn; 步骤S3、并行解析每一Bn,获取每一Fi n; 步骤S4、基于每一Fi n、Fi n对应的Cn、C0生成待测芯片设计的所有芯片测试用例; 每一Fi n包括用户标识、待测设计配置信息、运行参数、循环次数、测试用例组和运行时间中的一个或多个;C0、Cn包括待测设计配置信息、运行参数、循环次数和运行时间中的一个或多个; 所述步骤S4包括: 步骤S41、获取Fi n对应的用户标识和测试用例组{T1 in,T2 in,...,Tj in,...,Tbin in},Tj in为Fi n对应的第j个测试用例信息,j的取值范围为1到bin,bin为Fi n对应的测试用例组测试用例的个数; 步骤S42、若Fi n中设置有预设参数,则将Fi n中的预设参数确定为Tj in对应的目标参数,否则,执行步骤S43,所述预设参数为待测设计配置信息、运行参数、循环次数、测试用例组或运行时间; 步骤S43、若Cn中设置有预设参数,则将Cn中的预设参数确定为Tj in对应的目标参数,否则,执行步骤S44; 步骤S44、若C0中设置有预设参数,则将C0的预设参数确定为Tj in对应的目标参数,执行步骤S45,否则,生成提示信息,结束流程; 步骤S45、基于每一Tj in、每一Tj in对应的用户标识和每一Tj in对应的所有目标参数生成每一Tj in对应的测试用例。
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