沐曦集成电路(南京)有限公司苗鑫获国家专利权
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龙图腾网获悉沐曦集成电路(南京)有限公司申请的专利跨Die数据通路的设计方法、装置、电子设备、可读存储介质和程序产品获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120046552B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510534506.9，技术领域涉及：G06F30/33；该发明授权跨Die数据通路的设计方法、装置、电子设备、可读存储介质和程序产品是由苗鑫;黄青云;孔超;邱振华设计研发完成，并于2025-04-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本跨Die数据通路的设计方法、装置、电子设备、可读存储介质和程序产品在说明书摘要公布了：本申请涉及一种跨Die数据通路的设计方法、装置、电子设备、可读存储介质和程序产品。通过对芯片跨Die数据通路进行阶段设计，产生跨Die数据通路每个阶段的RTL代码，并对芯片硬件HW验证按模式划分，将每个阶段的RTL代码作为待测设计DUT与验证平台连接，进行跨Die数据通路不同模式下的功能验证，并选择不同阶段的RTL代码进行芯片软件SW测试，以进行跨Die数据通路的功能测试。其通过对芯片跨Die数据通路进行阶段设计，简化了设计流程，降低了设计复杂度；通过将每个阶段的RTL代码作为待测设计DUT与验证平台连接进行验证及软件测试，提高了验证的灵活性和效率，增加了芯片软件测试的可靠性。
本发明授权跨Die数据通路的设计方法、装置、电子设备、可读存储介质和程序产品在权利要求书中公布了：1.一种跨Die数据通路的设计方法，其特征在于，所述方法包括： 对芯片硬件HW设计按阶段划分，产生跨Die数据通路每个阶段的RTL代码； 对芯片硬件HW验证按模式划分，将每个阶段的所述RTL代码作为待测设计DUT与验证平台连接，进行跨Die数据通路不同模式下的功能验证； 对不同阶段的所述RTL代码进行芯片软件SW测试，以进行跨Die数据通路的功能测试； 所述对芯片硬件HW设计按阶段划分，产生跨Die数据通路每个阶段的RTL代码，包括： 根据跨Die数据通路的功能需求，将芯片硬件HW设计划分为多个阶段； 针对每个阶段，生成对应阶段的功能设计代码、空壳设计代码和调试回环设计代码，作为所述阶段的RTL代码；针对每个阶段的调试回环设计代码，通过配置开关控制打开或关闭。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人沐曦集成电路(南京)有限公司，其通讯地址为：211800 江苏省南京市浦口区浦口经济开发区双峰路69号A-14；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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