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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120031882B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510512963.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质是由张景程;杨硕;张滨;刘祥超设计研发完成，并于2025-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质，用于提高对不同显著性缺陷的检测能力。获取待测显示屏的反射条纹图像；对所述反射条纹图像进行相位提取和相位解包裹处理，生成相位分布数据；提取所述相位分布数据的梯度数据；根据所述梯度数据和显著性阈值对所述反射条纹图像的缺陷区域进行多层级显著性识别，生成多层级显著性识别结果，所述多层级显著性识别结果包括高显著性检测结果、中显著性检测结果、低显著性检测结果，不同层级的显著性识别结果对应不同的类型的缺陷；将多层级显著性识别结果进行分级分类处理；将分级分类处理后的最终检测结果输出。

本发明授权一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于相位偏折术的缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取待测显示屏的反射条纹图像； 对所述反射条纹图像进行相位提取和相位解包裹处理，生成相位分布数据； 提取所述相位分布数据的梯度数据； 根据所述梯度数据和预设的显著性阈值对所述反射条纹图像的缺陷区域进行多层级显著性识别，生成多层级显著性识别结果，所述多层级显著性识别结果包括高显著性检测结果、中显著性检测结果、低显著性检测结果，不同层级的显著性识别结果对应不同的类型的缺陷； 将多层级显著性识别结果进行分级分类处理； 将分级分类处理后的最终检测结果输出； 在根据梯度数据和预设的显著性阈值对反射条纹图像的缺陷区域进行多层级显著性识别，生成多层级显著性识别结果的步骤之后，将多层级显著性识别结果进行分级分类处理的步骤之前，缺陷检测方法还包括以下内容： 获取低显著性区域的增强系数； 根据所述增强系数对所述低显著性检测结果对应的区域进行自适应增强处理，公式如下： k为增强系数，用于调整低显著性区域的放大强度，为增强后的相位分布，为原相位分布，为预设的相位分布变化量； 其中，获取低显著性区域的增强系数的步骤包括：根据所述中显著性检测结果和所述低显著性检测结果生成低显著性区域的增强系数； 增强系数k根据预设的阈值和进行生成，公式如下： 。

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