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龙图腾网获悉合肥埃科光电科技股份有限公司申请的专利一种表面缺陷检测方法、装置、系统及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120009191B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510504664.X，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权一种表面缺陷检测方法、装置、系统及介质是由殷亚祥;罗来富;邵云峰;曹桂平;董宁设计研发完成，并于2025-04-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种表面缺陷检测方法、装置、系统及介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种表面缺陷检测方法、装置、系统及介质，检测方法包括：控制各光源依次点亮并循环，利用真彩线阵相机对移动的待测物进行拍摄，以获取真彩线阵相机各通道所采集的原始图像信息；拆分各通道所采集的原始图像信息，以使同一光源对应的图像信息按序进行汇总，从而得到各通道下所有光源对应的子图；融合各通道下所有光源对应的子图，计算当前通道下各子图相同位置对应的所有图像数据的平均值，以作为对应位置的融合数据，从而得到待测物表面的彩色信息；提取任意通道下所有光源对应的子图，基于各光源的角度信息计算光度立体图，以得到凹凸信息。本发明能够在降低成本的同时，提高检测效率，实现了彩色信息和凹凸信息的同时获取。

本发明授权一种表面缺陷检测方法、装置、系统及介质在权利要求书中公布了：1.一种表面缺陷检测方法，采集至少三个不同角度的光源在待测物表面形成的图像信息，以同时获取待测物表面的彩色信息和凹凸信息，其特征在于，检测方法包括： 控制各光源依次点亮并循环，利用真彩线阵相机对移动的待测物进行拍摄，以获取真彩线阵相机各通道所采集的原始图像信息； 拆分各通道所采集的原始图像信息，以使同一光源对应的图像信息按序进行汇总，从而得到各通道下所有光源对应的子图； 融合各通道下所有光源对应的子图，计算当前通道下各子图相同位置对应的所有图像数据的平均值，以作为对应位置的融合数据，从而得到待测物表面的彩色信息； 提取任意通道下所有光源对应的子图，基于各光源的角度信息计算光度立体图，以得到待测物表面的凹凸信息； 其中，原始图像信息的起始端与真彩线阵相机末位像素行首次采集时，首位像素行采集到的数据相对应，原始图像信息的结束端与真彩线阵相机末位像素行采集到的末位数据相对应，其中，首位像素行为首先采集到图像数据的像素行，末位像素行为最后采集到图像数据的像素行； 通过丢弃各通道起始无效数据以确定起始端，通过丢弃各通道的结束无效数据以确定结束端； 其中，起始无效数据满足公式：D1=a+1k-1；结束无效数据满足公式：D2=a+1n-k； D1为起始无效数据对应的行数据数量，D2为结束无效数据对应的行数据数量，a为真彩线阵相机的像素间距与像素宽度的比值，n为真彩线阵相机的像素行总数，k为真彩线阵相机当前像素行的序列数。

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