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龙图腾网获悉北京中电科卫星导航系统有限公司申请的专利一种电子电路板的AI图像检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120031870B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510496365.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种电子电路板的AI图像检测方法及系统是由田凤娟;刘宇恒;唐晓光;魏洪涛;王芳;邢涛;张慧林;范景海;张浩驰;郭媛设计研发完成，并于2025-04-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电子电路板的AI图像检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种电子电路板的AI图像检测方法及系统，涉及电路板生产检测技术领域。相比传统人工视觉检测方法，本发明通过电路板各生产工序的实时图像进行初步检测和精确检测，实现了电子电路板的自动缺陷检测，无需人工参与，提高了缺陷检测效率。此外，本发明通过第一AI图像检测模型和第二AI图像检测模型，进行初步检测和精确检测，可以降低缺陷检测过程中的资源占用量，保证电子电路板的缺陷检测的实时性，进而提高电子电路板的缺陷检测效率。

本发明授权一种电子电路板的AI图像检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种电子电路板的AI图像检测方法，其特征在于，包括： 获取待测电路板在各生产工序的实时图像； 基于各生产工序的实时图像，以及预设第一AI图像检测模型，进行初步检测，确定所述实时图像是否存在缺陷； 若所述实时图像存在缺陷，则提取存在缺陷的实时图像所处目标生产工序之前各生产工序的实时图像；并基于目标生产工序之前各生产工序的实时图像，构建缺陷检测向量； 基于所述目标生产工序，筛选得到第二AI图像检测模型； 基于所述缺陷检测向量，以及第二AI图像检测模型，进行精确检测，得到待测电路板的缺陷检测结果； 所述基于所述缺陷检测向量，以及第二AI图像检测模型，进行精确检测，得到待测电路板的缺陷检测结果之后，还包括：记录设定时期内各生产工序的缺陷信息，所述缺陷信息包括各缺陷类型的缺陷频次；基于各生产工序的缺陷信息，确定关键工序和关键缺陷类型；所述关键工序为缺陷频次大于第一阈值的生产工序，所述关键缺陷类型为缺陷频次大于第二阈值的缺陷类型；提取与所述关键工序和关键缺陷类型相关的电子电路板的产品信息，所述产品信息包括产品型号、生产批次、生产日期、生产线编号和生产工艺参数；基于所述关键工序和关键缺陷类型，以及电子电路板的产品信息，生成缺陷分析序列；基于所述缺陷分析序列，确定缺陷原因和改进措施； 所述基于目标生产工序之前各生产工序的实时图像，构建缺陷检测向量，还包括：基于目标生产工序之前各生产工序的实时图像，划分图像集，得到每个生产工序的图像集；其中，任一生产工序的图像集包括该任一生产工序的实时图像和该任一生产工序之前各生产工序的实时图像；基于每个生产工序的图像集，进行横向特征提取和纵向特征提取，得到每个生产工序的横向特征和纵向特征；基于每个生产工序的横向特征和纵向特征，生成每个生产工序的缺陷检测向量；所述横向特征表示单张实时图像内各部分的特征；所述纵向特征表示多张实时图像中同一区域的特征。

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