中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))潘广泽获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利数理智融合的加速试验与寿命评估方法、装置和设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119989931B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510451264.7,技术领域涉及:G06F30/27;该发明授权数理智融合的加速试验与寿命评估方法、装置和设备是由潘广泽;胡湘洪;李骞;程德斌;李小兵;周斌;李丹;罗琴;蔡自刚;刘放飞;王国庆设计研发完成,并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本数理智融合的加速试验与寿命评估方法、装置和设备在说明书摘要公布了:本申请涉及一种数理智融合的加速试验与寿命评估方法、装置和设备。该方法包括:在将待试验产品的不同组成设备放置于不同加速试验箱中,且不同加速试验箱分别被施加有不同加速应力的情况下,根据各组成设备的失效类型,获取各组成设备的试验检测数据;根据各试验检测数据的数据类型,对各试验检测数据进行数据分析,得到各组成设备的寿命分布函数;根据各组成设备之间的失效关联性和各组成设备的寿命分布函数,确定待试验产品的寿命评估试验结果。采用本方法能够提高寿命评估结果的准确性。
本发明授权数理智融合的加速试验与寿命评估方法、装置和设备在权利要求书中公布了:1.一种数理智融合的加速试验与寿命评估方法,其特征在于,所述方法包括: 在将待试验产品的不同组成设备放置于不同加速试验箱中,且所述不同加速试验箱分别被施加有不同加速应力的情况下,根据各所述组成设备的失效类型,获取各所述组成设备的试验检测数据;每个所述试验检测数据的检测方法与对应的失效类型匹配;所述失效类型包括硬失效设备、第一软失效设备和第二软失效设备;所述第一软失效设备的失效物理模型未知;所述第二软失效设备的失效物理模型已知; 根据各所述试验检测数据的数据类型,对各所述试验检测数据进行数据分析,得到各所述组成设备的寿命分布函数;所述组成设备为硬失效设备时,所述数据类型包括失效时间数据;所述硬失效设备的加速试验数据分析采用数理统计方式;所述组成设备为第一软失效设备时,所述数据类型包括第一性能退化数据;所述第一软失效设备的加速试验数据分析采用人工智能算法;所述组成设备为第二软失效设备时,所述数据类型包括第二性能退化数据;所述第二性能退化数据的数量小于所述第一性能退化数据的数量;所述第二软失效设备的加速试验数据分析采用失效物理模型; 根据各所述组成设备之间的失效关联性和各所述组成设备的寿命分布函数,确定所述待试验产品的寿命评估试验结果。
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