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龙图腾网获悉济南新语软件科技有限公司申请的专利一种芯片验证测试用随机激励生成方法、系统和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119962476B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510442867.0，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种芯片验证测试用随机激励生成方法、系统和设备是由易敏设计研发完成，并于2025-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片验证测试用随机激励生成方法、系统和设备在说明书摘要公布了：本申请公开了一种芯片验证测试用随机激励生成方法、系统和设备，涉及芯片验证技术领域，所述方法包括：根据待测芯片验证测试用例所需激励的约束条件，确定激励中所有变元的优先级；检测所述约束条件中是否存在不等式约束，如果存在则将不等式约束等价替换成统一表示形式后执行后续步骤，否则直接执行后续步骤；基于变元的优先级，对所述约束条件中每一变元的所有相关约束求交集，将每一变元的所有相关约束转换为一个范围约束，由此生成优化后的约束条件；基于优化后的约束条件，按照变元的优先级从高到低逐次随机，从而得到所述待测芯片验证测试用例所需的随机激励。

本发明授权一种芯片验证测试用随机激励生成方法、系统和设备在权利要求书中公布了：1.一种芯片验证测试用随机激励生成方法，其特征在于，所述方法包括： 根据待测芯片验证测试用例所需激励的约束条件，确定激励中所有变元的优先级；所述约束条件至少包括常量范围约束、变量表达式范围约束和不等式约束中的一种； 检测所述约束条件中是否存在不等式约束，如果存在则将不等式约束等价替换成统一表示形式后执行后续步骤，否则直接执行后续步骤；所述不等式约束的统一表示形式为采用“=”和或“=”表示的形式； 基于变元的优先级，对所述约束条件中每一变元的所有相关约束求交集，将每一变元的所有相关约束转换为一个范围约束，由此生成优化后的约束条件； 基于优化后的约束条件，按照变元的优先级从高到低逐次随机，从而得到所述待测芯片验证测试用例所需的随机激励； 所述的基于变元的优先级，对所述约束条件中每一变元的所有相关约束求交集，将每一变元的所有相关约束转换为一个范围约束，由此生成优化后的约束条件，具体包括： 根据所述约束条件，化简产生新的不等式约束，将产生的新的不等式约束代入所述约束条件的范围约束中，得到第一次化简结果； 根据所述第一次化简结果，化简产生新的不等式约束，将产生的新的不等式约束代入所述第一次化简结果中，得到第二次化简结果； 以此类推，直到无法化简产生新的不等式约束，则化简结束，将最后一次化简结果即为优化后的约束条件； 其中，每一化简过程中需满足低优先级依赖高优先级。

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