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龙图腾网获悉深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种数据集动态更新的方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119941722B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510421550.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种数据集动态更新的方法、装置及存储介质是由郭正华;杨硕;刘祥超;罕方平设计研发完成，并于2025-04-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种数据集动态更新的方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种数据集动态更新的方法、装置及存储介质，用于提高模型训练的数据质量和模型性能。获取检测模型的训练数据集，检测模型为将要加入当前显示屏生产线内进行显示屏缺陷检测工作的人工智能模型；实时获取显示屏采集数据集合，显示屏采集数据集合为在当前显示屏生产线中采集的用于进行显示屏缺陷检测的数据；对显示屏采集数据集合进行数据新鲜度评估；对显示屏采集数据集合进行数据重要性评估；根据数据新鲜度评估结果和数据重要性评估结果对显示屏采集数据集合进行更新等级分析；根据更新等级分析结果从显示屏采集数据集合中筛选出目标数据项集合；将筛选出来的目标数据项集合更新到训练数据集中。

本发明授权一种数据集动态更新的方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种数据集动态更新的方法，其特征在于，包括： 获取检测模型的训练数据集，所述检测模型为将要加入当前显示屏生产线内进行显示屏缺陷检测工作的人工智能模型，所述训练数据集为所述检测模型在预训练时使用的显示屏数据，所述检测模型为对显示屏电路区域进行缺陷检测的人工智能模型； 实时获取显示屏采集数据集合，所述显示屏采集数据集合为在当前显示屏生产线中采集的用于进行显示屏缺陷检测的数据； 从所述显示屏采集数据集合筛选出含有电路区域的显示屏采集数据，并获取含有电路区域的显示屏采集数据的生成时间数据； 对含有电路区域的显示屏采集数据进行缺陷区域和缺陷类型分析，并为每一张在电路区域内存在缺陷的显示屏采集数据生成缺陷特征标签； 将进行缺陷区域和缺陷类型分析之后的显示屏采集数据按照显示屏ID和检测项目进行归类； 根据归类后的显示屏采集数据生成电路结构层级，所述电路结构层级表示电路区域中薄片电路的结构等级； 将获取的生成时间数据、缺陷特征标签、电路结构层级与归类后的显示屏采集数据进行绑定，生成新的显示屏采集数据集合； 对所述显示屏采集数据集合进行数据新鲜度评估； 所述对所述显示屏采集数据集合进行数据新鲜度评估的步骤包括：选取新的显示屏采集数据集合中的一张目标显示屏采集数据；根据所述目标显示屏采集数据的缺陷检测项目确定时间衰减函数，所述时间衰减函数存在生成时间这一未知数；根据所述目标显示屏采集数据的显示屏型号生成业务权重，所述业务权重指代显示屏型号对应的显示屏对检测模型的训练重要性；根据所述目标显示屏采集数据的显示屏型号以及新的显示屏采集数据集合确定该显示屏型号对应的数据变化率参数；根据所述时间衰减函数、所述业务权重和所述数据变化率参数、目标显示屏采集数据的生成时间进行新鲜度评估；对新的显示屏采集数据集合中其他的显示屏采集数据进行新鲜度评估，整合形成数据新鲜度评估结果； 对所述显示屏采集数据集合进行数据重要性评估； 根据数据新鲜度评估结果和数据重要性评估结果对所述显示屏采集数据集合进行更新等级分析； 根据更新等级分析结果从所述显示屏采集数据集合中筛选出目标数据项集合； 将筛选出来的目标数据项集合更新到训练数据集中。

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