长春理工大学董科研获国家专利权
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龙图腾网获悉长春理工大学申请的专利红外成像冷辐射效应矫正方法、系统、设备以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119850491B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510345010.7，技术领域涉及：G06T5/80；该发明授权红外成像冷辐射效应矫正方法、系统、设备以及存储介质是由董科研;张雷;宋延嵩;张功;陈启梦;刘天赐设计研发完成，并于2025-03-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本红外成像冷辐射效应矫正方法、系统、设备以及存储介质在说明书摘要公布了：红外成像冷辐射效应矫正方法、系统、设备以及存储介质,属于红外图像去噪技术领域，解决了现有的方法会导致红外图像光斑边缘附近的场景信息无法被彻底抑制，从而干扰后续操作对红外图像的处理结果的问题。获取包括冷辐射光斑的原始红外图像；分别对高斯函数的多个参数进行调整后，基于调整后的高斯函数读取原始红外图像，将读取后的红外图像进行预处理；基于巴特沃斯函数对预处理后的红外图像进行拟合，构建出拟合函数；基于构建出的拟合函数的参数以及巴特沃斯函数构建红外图像的冷辐射光斑特征；将冷辐射光斑特征与原始红外图像进行差分处理，完成对红外图像中的冷辐射光斑的矫正。
本发明授权红外成像冷辐射效应矫正方法、系统、设备以及存储介质在权利要求书中公布了：1.红外成像冷辐射效应矫正方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1，获取包括冷辐射光斑的原始红外图像； 步骤S2，分别对高斯函数的多个参数进行调整后，基于调整后的高斯函数读取步骤S1所述的原始红外图像，将读取后的红外图像进行预处理； 步骤S3，基于巴特沃斯函数对步骤S2预处理后的红外图像进行拟合，构建出拟合函数； 步骤S4，基于步骤S3所述的构建出的拟合函数的参数以及巴特沃斯函数构建红外图像的冷辐射光斑特征； 步骤S5，将步骤S4所述的冷辐射光斑特征与原始红外图像进行差分处理，完成对红外图像中的冷辐射光斑的矫正； 所述的步骤S2中，所述的分别对高斯函数的多个参数进行调整，具体为： 分别对高斯函数的标准差和滤波窗口进行调整； 所述的高斯函数的标准差，具体为： 其中，σ为高斯函数的标准差，N为高斯函数的滤波窗口，n为正整数； 所述的高斯函数的滤波窗口，具体为： N＝n*σ+1。
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