广立微(上海)技术有限公司张飞虎获国家专利权
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龙图腾网获悉广立微(上海)技术有限公司申请的专利一种用于电性检测的测试结构和集成电路获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223229702U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422198950.1，技术领域涉及：G01R31/28；该实用新型一种用于电性检测的测试结构和集成电路是由张飞虎;刘慧斌;刘国钧设计研发完成，并于2024-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于电性检测的测试结构和集成电路在说明书摘要公布了：本实用新型提供一种用于电性检测的测试结构和集成电路，所述测试结构包括至少一个测试单元和连接所述测试单元的隔离组件，所述隔离组件设置于所述测试单元的引脚连线上，用于在对至少一个所述测试单元执行电性测试时可控地断开所述测试单元的对外连接。本实用新型以最小的面积开销，实现了将待测的测试单元与外围电路结构相隔离的目的，进而可控地隔离施加或流出待测的测试单元的电性信号，避免了外围电路中其他测试单元或电路结构的电位对待测的测试单元的电性测试的影响，保证了电性测试结果的可靠性和精准度。
本实用新型一种用于电性检测的测试结构和集成电路在权利要求书中公布了：1.一种用于电性检测的测试结构，其特征在于：所述测试结构包括至少一个测试单元和连接所述测试单元的隔离组件， 所述隔离组件设置于所述测试单元的引脚连线上，用于在对至少一个所述测试单元执行电性测试时可控地断开所述测试单元的对外连接。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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