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龙图腾网获悉西北核技术研究所申请的专利基于变剂量率辐照的双极器件抗总剂量性能保守估计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115629244B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211046618.2，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权基于变剂量率辐照的双极器件抗总剂量性能保守估计方法是由姚志斌;陈伟;缑石龙;何宝平;马武英;盛江坤设计研发完成，并于2022-08-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于变剂量率辐照的双极器件抗总剂量性能保守估计方法在说明书摘要公布了：本发明为解决有变剂量率辐照方法需要大量试验样品、试验成本高的问题，而提供了一种基于变剂量率辐照的双极器件抗总剂量性能保守估计方法。本发明具体为：首先，利用高剂量率加速双极器件的辐射损伤；其次，利用低剂量率辐照获取双极器件在低剂量率下的参数退化率；最后，假设试验样品在低剂量率下，其敏感参数的退化率没有明显变化，通过对低剂量率下的损伤曲线的线性外推，从而得到对试验样品总剂量效应失效阈值的估计，为具有低剂量率增强效应的双极器件抗总剂量性能评价提供了一种简单有效、操作性强的地面模拟试验方法。

本发明授权基于变剂量率辐照的双极器件抗总剂量性能保守估计方法在权利要求书中公布了：1.一种基于变剂量率辐照的双极器件抗总剂量性能保守估计方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一、选取待测器件的试验样品，测量试验样品初始的性能参数和辐照参数，并确定辐照试验样品的高剂量率、低剂量率、高剂量率值下的辐照总剂量以及低剂量率值下的辐照总剂量； 所述辐照参数包括源种类、辐射剂量场均匀性、试验样品性能测量时间； 步骤二、根据设定的高剂量率值和辐照总剂量对试验样品进行高剂量率辐照，测量辐照后试验样品的性能参数，计算每个性能参数的高剂量率可靠度，确定高剂量率下试验样品的辐照最敏感参数并判断其可靠度是否满足要求，若是，则进入下一步，否则，重复步骤二； 步骤三、对高剂量率辐照后的试验样品进行室温退火； 步骤四、根据设定的低剂量率值和辐照总剂量对试验样品进行低剂量率辐照，测量辐照后试验样品的性能参数，计算每个性能参数的低剂量率可靠度，确定低剂量率下试验样品的辐照最敏感参数并判断其可靠度是否满足要求，若是，则进入下一步，否则，重复步骤四； 步骤五、插值计算试验样品失效时所承受的总剂量TID0和试验样品在低剂量率下的损伤拟合曲线外推得到的初始参数值所对应的总剂量值TIDfit，进而得到试验样品总剂量失效阈值估计TIDth＝TID0-TIDfit。

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