北京理工大学刘克获国家专利权
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龙图腾网获悉北京理工大学申请的专利一种基于夏克-哈特曼波前传感器的波前斜率和曲率信息的提取方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115265810B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210928287.9,技术领域涉及:G01J9/00;该发明授权一种基于夏克-哈特曼波前传感器的波前斜率和曲率信息的提取方法是由刘克;何飞;李艳秋;秦鹏;钟慧;张孝天设计研发完成,并于2022-08-03向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于夏克-哈特曼波前传感器的波前斜率和曲率信息的提取方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于夏克‑哈特曼波前传感器的波前斜率和曲率信号的提取方法。本发明方法在传统夏克‑哈特曼波前传感器未加任何调制器件的基础上利用傅里叶解调技术和有限差分法比较精确的获得入射波前斜率和曲率信息。与传统的夏克‑哈特曼波前传感器利用空域质心探测算法仅仅得到波前斜率信息相比,本发明在频域中同时得到波前斜率和曲率信息,并且计算速度快,处理简单。本发明利用传统夏克‑哈特曼波前传感器结构提高了光的利用率,并且该方法具有较强的抗噪能力。
本发明授权一种基于夏克-哈特曼波前传感器的波前斜率和曲率信息的提取方法在权利要求书中公布了:1.一种基于夏克-哈特曼波前传感器的波前斜率和曲率信息的提取方法,其特征在于步骤包括: 步骤1:记录待测波前的光斑阵列图像信息即远场光强分布I; 步骤2:对步骤1记录的光斑阵列图像信息进行傅里叶变换得到远场光强分布I的频谱图分布 步骤3:在步骤2得到的远场光强分布I的频谱图分布内提取u和v两个方向的一级谱和移到频谱中心后进行逆傅里叶变换得到H1,0x,y和H0,1x,y; 步骤4:获取子孔径的x方向的p,q子孔径内每一点波前斜率和y方向p,q子孔径内每一点的波前斜率 步骤5:获取x方向子孔径对应的局部待测波前曲率和y方向子孔径对应的局部待测波前曲率 所述的步骤5中,对步骤4得到的x方向的波前斜率和y方向的波前斜率利用有限差分法得到x方向待测波前的曲率信号和y方向待测波前的曲率信号,然后以每个子孔径为单元得到x方向子孔径对应的局部待测波前曲率和y方向子孔径对应的局部待测波前曲率 式中是待测波前对x方向的二阶偏导,为波前曲率信息,m,n是待测波前的离散采样点,是采样间隔,表示子孔径p,q处的待测波前曲率值,K1和K2分别代表子孔径中曲率的最大值和最小值; 式中是待测波前对y方向的二阶偏导,为波前曲率信息,K3和K4分别代表子孔径中曲率的最大值和最小值; 所述的步骤4中,根据能量守恒以及步骤3得到的u和v两个方向的一级谱和待测波前斜率之间的关系求得子孔径的x方向的斜率和y方向的斜率 波前斜率的获取方法为: 式中和分别是Ix,y和Hk,lx,y的傅里叶变换,Ix,y是光强分布,H1,0,x,y是x方向的一次谐波信息;x,y是物平面的坐标系,u,v是傅里叶平面内的坐标系;K是谐波的次数;k,l是傅里叶平面内谐波的坐标位置,是波面对x方向的一阶偏导,指的是斜率信息,IMAGH1,0x,y是对H1,0x,y取虚部;表示p,q子孔径中局部波前各点的处的斜率值,待测波前的相位分布为 波前斜率的获取方法为: 式中H0,1x,y是y方向的一次谐波信息;是待测波前对y方向的一阶偏导,指的是斜率信息; 对步骤4得到的x方向的波前斜率和y方向的波前斜率以及步骤5得到的x方向待测波前的曲率信号和y方向待测波前的曲率信号,利用斜率和曲率波前重构算法进行波前重构。
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