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龙图腾网获悉中北大学申请的专利一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114924185B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210426374.4，技术领域涉及：G01R31/327；该发明授权一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法是由吴倩楠;史泽民;陈玉;郭宏磊;李孟委设计研发完成，并于2022-04-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法在说明书摘要公布了：本发明属于芯片寿命测试系统技术领域，具体涉及一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法，驱动信号发生模块电性连接有射频开关芯片，射频开关芯片分别电性连接有射频信号发生模块和射频检波模块，驱动信号发生模块和射频检波模块均通过信号线电性连接有数据处理模块，数据处理模块电性连接有上位机。本发明在进行射频开关芯片寿命测试时，集成各个功能模块为一体代替传统实验室环境下使用电压源、射频信号源、电压放大器、探针台、示波器等造价昂贵且体积较大的测试仪器进行测试，极大节约了测试成本、解决了复杂的现场连线、解除测试任务必须在实验室环境进行的限制。

本发明授权一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种射频开关芯片寿命的小型化测试系统，其特征在于：包括系统电源模块（1）、驱动信号发生模块（2）、射频开关芯片（3）、射频信号发生模块（5）、射频检波模块（6）、数据处理模块（7）、上位机（8）和限流保护电阻（10），所述驱动信号发生模块（2）电性连接有射频开关芯片（3），所述射频开关芯片（3）分别电性连接有射频信号发生模块（5）和射频检波模块（6），所述驱动信号发生模块（2）和所述射频检波模块（6）均通过信号线电性连接有数据处理模块（7），所述数据处理模块（7）电性连接有上位机（8），所述系统电源模块（1）分别与驱动信号发生模块（2）、射频信号发生模块（5）、射频检波模块（6）、数据处理模块（7）和上位机（8）电性连接； 所述系统电源模块（1）包括升压电路电源（101）、电力场效应管驱动电路电源（102）、射频信号发生模块电源（103）、射频检波模块电源（104）、数据处理模块电源（105）和上位机电源（106），所述驱动信号发生模块（2）包括升压电路（201）和电力场效应管驱动电路（202），所述升压电路电源（101）与升压电路（201）电性连接，所述电力场效应管驱动电路电源（102）与电力场效应管驱动电路（202）电性连接，所述射频信号发生模块电源（103）与射频信号发生模块（5）电性连接，所述射频检波模块电源（104）与射频检波模块（6）电性连接，所述数据处理模块电源（105）与数据处理模块（7）电性连接，所述上位机电源（106）与上位机（8）电性连接； 所述数据处理模块（7）包括高通滤波电路（301）、低通滤波电路（302）、数据采集电路（303）和检测计算电路（304），所述高通滤波电路（301）、低通滤波电路（302）均电性连接在射频检波模块（6）和限流保护电阻（10）上，所述高通滤波电路（301）、低通滤波电路（302）均电性连接有数据采集电路（303），所述数据采集电路（303）电性连接有检测计算电路（304）。

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