万润科技股份有限公司卢昱呈获国家专利权
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龙图腾网获悉万润科技股份有限公司申请的专利电子元件测试装置及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115508633B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110975245.6，技术领域涉及：G01R31/00；该发明授权电子元件测试装置及测试方法是由卢昱呈;林芳旭;纪建兆;陆志益设计研发完成，并于2021-08-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本电子元件测试装置及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种电子元件测试装置及测试方法，该电子元件测试装置包括：一机台，其上设有一机台台面；一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中，该检查单元设有一第一检查单元，该第一检查单元设有一第一座架、多个匣盒状的第一上端子匣、及多个匣盒状的第一下端子匣；该第一上端子匣设有多个第一上端子；该第一下端子匣设有多个第一探针；借此使适应多个端子模组需求。
本发明授权电子元件测试装置及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种电子元件测试装置，包括： 一机台，其上设有一机台台面； 一承载底盘，设于该机台台面，该承载底盘上设置可被驱动进行旋转的测试板，并在该承载底盘周缘外设置有一入料单元、一检查单元、及一排出单元；其中， 该检查单元设有一第一检查单元，该第一检查单元设有一第一座架、以相隔间距弧形并列方式设于该第一座架的多个匣盒状的第一上端子匣、及分别各以相隔间距弧形并列方式对应设于各该第一上端子匣下方的多个匣盒状的第一下端子匣；该第一上端子匣设有多个相隔间距直线并列的第一上端子；该第一下端子匣设有多个相隔间距直线并列可上下微动的第一探针； 该检查单元还设有一第二检查单元，该第二检查单元设有一第二座架、设于该第二座架的一匣盒状的第二上端子匣、及对应设于该第二上端子匣下方的一匣盒状的第二下端子匣；该第二上端子匣设有多个相隔间距直线并列的第二上端子；该第二下端子匣设有多个相隔间距直线并列可上下微动的第二探针。
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