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龙图腾网获悉福斯分析仪器公司申请的专利校正光谱仪中的振幅变化的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114270171B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-15发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080038700.3，技术领域涉及：G01N21/27；该发明授权校正光谱仪中的振幅变化的方法是由P·W·汉森;J·S·克劳森设计研发完成，并于2020-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本校正光谱仪中的振幅变化的方法在说明书摘要公布了：一种校正光谱测定仪器300的输出中的由于通过样品保持器600的光学路径长度L的变化而引起的振幅变化的方法，所述方法包括：在多个波数下使样品保持器600中的样品暴露于电磁辐射；在所述多个波数下检测所述样品中的电磁吸收强度；向计算机装置510提供针对波数索引的检测到的吸收强度作为光谱数据；以及在所述计算机装置510中将数学变换Icorr应用于所述光谱数据以校正所述光谱测定仪器300的输出中的振幅变化，并且通过确定在两个不同波数范围下在来自零材料样品的光谱数据SBZl的一阶导数下的吸光度值之间的差ΔSBZ来计算所述数学变换；以及计算作为与所确定的差ΔSBZ逆相关的函数的所述数学变换Icorr。

本发明授权校正光谱仪中的振幅变化的方法在权利要求书中公布了：1.一种校正光谱测定仪器的输出中的由于通过样品保持器600的光学路径长度L的改变而引起的振幅变化的方法，所述方法包括：在多个波数下使所述样品保持器600中的未知样品暴露于电磁辐射；由所述光谱测定仪器检测所述未知样品在所述多个波数下的电磁吸收强度；向与所述光谱测定仪器相关联的计算机装置提供针对波数索引的检测到的吸收强度作为光谱数据；在样品保持器中测量样品相对于零材料的吸光度值；以及借助于所述计算机装置将强度校正Icorr应用于所生成的吸光度值以校正所述光谱测定仪器的所述输出中的所述振幅变化；其中所述方法进一步包括：在所述计算机装置中通过确定在第一波数范围x1下来自所述零材料的对数变换光谱数据的一阶导数log10SBZx1与在第二波数范围x2下来自所述零材料的对数变换光谱数据的一阶导数log10SBZx2之间的差ΔSBZ来计算所述强度校正Icorr；以及计算作为与所确定的差ΔSBZ逆相关的函数的所述强度校正Icorr如下: 1Icorr＝c1·ΔSBZ+c2+corrhum 其中，值c1、c2和湿度校正corrhum的公式在使用时经实验确定；常数c1仅与标称路径长度L0下水相对于空气的吸收相关；常数c2是对归因于干燥空气的背景的贡献；并且校正corrhum是基于零材料的单波束光谱SBZ中的湿度特征的振幅的校正； 其中，零材料是水。

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