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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所咸竞天获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利空间望远镜带通相机的鬼像分析方法、设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120352117B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510851882.0,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权空间望远镜带通相机的鬼像分析方法、设备及存储介质是由咸竞天;王维;张天一;潘颂;汤世杰;徐抒岩设计研发完成,并于2025-06-24向国家知识产权局提交的专利申请。

空间望远镜带通相机的鬼像分析方法、设备及存储介质在说明书摘要公布了:本发明属于光学测试技术领域,尤其涉及空间望远镜带通相机的鬼像分析方法、设备及存储介质;空间望远镜带通相机的鬼像分析方法包括步骤:获取空间望远镜带通相机的方孔径角;测量滤光片的透过率和反射率,滤光片的前表面的透射率为,滤光片的后表面的透射率为,滤光片的前表面的反射率为,滤光片的后表面的反射率为;测量探测器的反射率,探测器的表面的反射率为;测量滤光片的厚度,测量滤光片与探测器之间的距离;通过鬼像的照度分布函数以及能量、半径、坐标计算公式等进行鬼像分析;本发明首次达成了量化分析鬼像具体的位置、形状、量级,能够用于科学仿真图像的生成。

本发明授权空间望远镜带通相机的鬼像分析方法、设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种空间望远镜带通相机的鬼像分析方法,其特征在于:所述空间望远镜带通相机包括滤光片和探测器,所述空间望远镜带通相机的鬼像包括第一鬼像、第二鬼像和第三鬼像;所述第一鬼像为所述滤光片的前表面和所述滤光片的后表面两次反射形成;所述第二鬼像为所述滤光片的后表面和所述探测器的表面两次反射形成;所述第三鬼像为所述滤光片的前表面和所述探测器的表面两次反射形成; 所述空间望远镜带通相机的鬼像分析方法包括步骤: S1.获取所述空间望远镜带通相机的出瞳口径和出瞳到像面的光路距离,进而获得像方孔径角; S2.测量所述滤光片的透过率和反射率,所述滤光片的前表面的透射率为,所述滤光片的后表面的透射率为,所述滤光片的前表面的反射率为,所述滤光片的后表面的反射率为; S3.测量所述探测器的反射率,所述探测器的表面的反射率为; S4.测量所述滤光片的厚度,测量所述滤光片与所述探测器之间的距离; S5.通过鬼像的照度分布函数进行鬼像分析,所述照度分布函数为; 为所述第一鬼像的照度,为所述第二鬼像的照度,为所述第三鬼像的照度;代表以为圆心,为半径的圆盘函数;为所述第一鬼像的半径,为所述第二鬼像的半径,为所述第三鬼像的半径。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,其通讯地址为:130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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