湖北长江万润半导体技术有限公司杨文获国家专利权
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龙图腾网获悉湖北长江万润半导体技术有限公司申请的专利一种基于AI技术的存储器测试方法、设备与介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120336102B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510828807.2，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种基于AI技术的存储器测试方法、设备与介质是由杨文;赵周星;张杰;施树佩设计研发完成，并于2025-06-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于AI技术的存储器测试方法、设备与介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于AI技术的存储器测试方法、设备与介质，包括以下步骤：1获取待测试存储器的结构解析数据和存储器类型描述信息，生成用于表达测试目标的测试意图向量；2以所述测试意图向量为输入，生成测试激励序列；3执行所述测试激励序列，对存储阵列进行多周期测试，形成多模态响应特征集；4将所述多模态响应特征集输入图神经网络中，进行故障类型识别与因果路径推理，生成故障标签序列与推理路径图；5基于推理路径图与测试激励序列的特征差异，进行深度生成模型的权重参数更新；6基于更新后的深度生成模型生成测试激励序列进行存储器测试。本发明可有效提升存储器测试的智能化水平及测试覆盖率。
本发明授权一种基于AI技术的存储器测试方法、设备与介质在权利要求书中公布了：1.一种基于AI技术的存储器测试方法，其特征在于，包括以下步骤： 1获取待测试存储器的结构解析数据和存储器类型描述信息，根据待测试存储器的结构解析数据和存储器类型描述信息，生成用于表达测试目标的测试意图向量； 其中，结构解析数据包括待测试存储器的存储单元排列矩阵、位线字线结构及冗余映射关系； 2以所述测试意图向量为输入，结合存储器目标故障模式数据库，输入至预设的深度生成模型中，构建故障覆盖语义表示，生成测试激励序列； 3执行所述测试激励序列，对存储阵列进行多周期测试，采集测试过程中的电信号数据、操作时序轨迹及运行环境参数，形成多模态响应特征集； 4将所述多模态响应特征集输入图神经网络中，进行故障类型识别与因果路径推理，生成故障标签序列与推理路径图； 5基于推理路径图与测试激励序列的特征差异，进行深度生成模型的权重参数更新； 6基于更新后的深度生成模型生成测试激励序列进行存储器测试。
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