苏州元脑智能科技有限公司靳嘉晖获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州元脑智能科技有限公司申请的专利固态硬盘性能波动测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120236639B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510712897.9，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权固态硬盘性能波动测试方法、装置、设备及存储介质是由靳嘉晖;姜伟丽;刘方健设计研发完成，并于2025-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本固态硬盘性能波动测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种固态硬盘性能波动测试方法、装置、设备及存储介质，涉及性能测试技术领域，通过根据性能测试指令生成相应的测试动作序列，将多个测试动作组织成可重复执行的标准化测试流程，消除人工执行测试操作的差异对测试结果的影响，并基于测试动作序列执行过程中待测试固态硬盘的存储性能指标计算待测试固态硬盘的性能波动测试结果，在有充分数据支持的基础上实现固态硬盘性能波动的客观评估，从测试过程与结果评估两方面共同实现测试的自动化与标准化，提高了测试的效率与准确性。
本发明授权固态硬盘性能波动测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种固态硬盘性能波动测试方法，其特征在于，包括： 根据性能测试指令，生成所述性能测试指令对应的测试动作序列； 调用测试工具对待测试固态硬盘执行所述测试动作序列； 获取所述测试动作序列执行过程中，所述待测试固态硬盘的存储性能指标； 基于所述存储性能指标的变化量，计算得到所述待测试固态硬盘的性能波动测试结果； 当所述测试动作序列包括静置操作时，所述方法还包括： 将所述待测试固态硬盘的属性信息以及静置操作的静置条件输入性能衰减预测模型中，得到所述性能衰减预测模型输出的性能衰减预测值； 若所述性能波动测试结果与所述性能衰减预测值的差值大于预设阈值，则生成提示信息。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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