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龙图腾网获悉中南大学申请的专利一种大尺寸环筒件深部残余应力中子衍射测试工装和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120213303B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510690810.2，技术领域涉及：G01L5/00；该发明授权一种大尺寸环筒件深部残余应力中子衍射测试工装和方法是由龚海;张龙;钟掘;张涛;吴运新设计研发完成，并于2025-05-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种大尺寸环筒件深部残余应力中子衍射测试工装和方法在说明书摘要公布了：本发明属于残余应力检测技术领域，尤其涉及一种大尺寸环筒件深部残余应力中子衍射测试工装和方法；其中，测试工装由固定底板、压辊和多对支撑辊组组成，多对支撑辊组沿环筒件的轴向间隔设置，压辊沿环筒件轴向设置于其内部，且压辊的两端分别与中子应力谱仪样平台固定连接。测试方法为：测试之前判断环筒件各方向的测试盲区及盲区上的测试盲点，对非测试盲点进行测试，然后对测试盲点实施本发明创新性提出的旋转偏移和钻孔辅助法进行测试。测试工装结构简单、加工方便，能够实现环筒件稳定固定与轴向应变测试点快速切换，提升测试效率、节约宝贵的中子束流时长，测试方法则解决了环筒件深部残余应力测不到的难题。

本发明授权一种大尺寸环筒件深部残余应力中子衍射测试工装和方法在权利要求书中公布了：1.一种大尺寸环筒件深部残余应力中子衍射测试方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、根据待测试的环筒件周向、轴向和径向三个测试方向的结构尺寸参数，分别计算环筒件在三个测试方向上的理论最大光程，通过比较三个测试方向上的理论最大光程与中子束对所述环筒件的最大穿透深度，判断所述环筒件在这三个测试方向上是否存在测试盲区；对于不存在测试盲区的方向，则直接进行中子衍射测试；对于存在测试盲区的方向，进行下一步的判断； S2、对所述环筒件上存在有测试盲区的方向，计算各待测点在该方向的实际光程，比较各待测点在该方向的实际光程与中子束对所述环筒件的最大穿透深度，判断各待测点是否为测试盲点，最终确定所述环筒件在存在测试盲区方向的所有测试盲点；对于测试盲区方向的非测试盲点，则直接进行中子衍射测试；对于测试盲区方向的测试盲点，进行下一步的判断； S3、对所述环筒件上存在有测试盲区方向的测试盲点，判断其在周向方向的实际光程是否满足特定条件；若满足特定条件，则采取旋转偏移法进行测试；若不满足特定条件，则采取钻孔辅助法进行测试； 所述旋转偏移法具体为：首先，增大中子衍射波长，使得中子衍射角增大α，中子入射束与中子衍射束的夹角减小α2，0°＜α≤10°；随后，将所述环筒件绕其轴线向远离中子光路的方向旋转γ，0°＜γ≤5°，各待测点的光程减小；衍射角增大量α和环筒件旋转角度γ需满足条件：偏移后的理论最大光程小于中子束对所述环筒件的最大穿透深度；衍射角增大量α和环筒件旋转角度γ可通过如下式子确定： 上式中，为该测试盲点采用旋转偏移法后环筒件在周向的实际光程； 所述钻孔辅助法具体为：针对某方向上的测试盲点，在其测试光路入射和出射环筒件处分别钻设第一孔和第二孔，所述第一孔和第二孔的半径为5~10mm，所述第一孔和所述第二孔的深度关系由下述公式确定： 上式中，f1和f2分别是第一孔和第二孔的深度，是在某方向测试时测试盲点的实际光程。

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