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苏州高擎三炬精密科技有限公司高亮获国家专利权

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龙图腾网获悉苏州高擎三炬精密科技有限公司申请的专利基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120088264B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510580427.1,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法是由高亮;卫秀娟设计研发完成,并于2025-05-07向国家知识产权局提交的专利申请。

基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法在说明书摘要公布了:本发明涉及缺陷检测技术领域,具体涉及一种基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法;根据目标边缘中相邻边缘像素点的梯度差异特征获得局部梯度大小差异值和局部梯度方向差异值;根据局部梯度大小差异值和局部梯度方向差异值的分布特征获得边缘平滑特征值;根据任意两个目标边缘的边缘平滑特征值获得平滑差异度;根据平滑差异度获得缺陷概率值并判断是否存在缺陷;根据平滑差异度对目标边缘聚类、根据边缘平滑特征值选取缺陷边缘簇。本发明根据缺陷边缘簇中缺陷边缘的两侧区域的灰度差异特征获得分水岭分割算法的种子点和缺陷区域;根据缺陷区域的面积特征获得缺陷程度,提高了种子点选取和缺陷检测的准确性。

本发明授权基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法在权利要求书中公布了:1.一种基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤: 获取半导体陶瓷复合材料的外观图像; 根据所述外观图像中边缘线上边缘像素点的邻域范围内其他边缘像素点的数量特征获得边缘交点;根据所述边缘交点获取边缘线中不同的目标边缘;根据所述目标边缘中相邻边缘像素点的梯度差异特征获得局部梯度大小差异值和局部梯度方向差异值; 根据目标边缘中边缘像素点的局部梯度大小差异值和局部梯度方向差异值的分布特征获得边缘平滑特征值;根据任意两个目标边缘的边缘平滑特征值的差异特征获得平滑差异度;根据所述平滑差异度的离散特征获得缺陷概率值并判断是否存在缺陷;若存在缺陷,根据所述平滑差异度对目标边缘聚类、根据所述边缘平滑特征值在聚类结果中选取缺陷边缘簇; 根据所述缺陷边缘簇中任意缺陷边缘的两侧区域的灰度差异特征获得分水岭分割算法的种子点;根据种子点通过分水岭分割算法获取复合材料外观的缺陷区域;根据缺陷区域的面积特征获得缺陷程度。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人苏州高擎三炬精密科技有限公司,其通讯地址为:215500 江苏省苏州市常熟市沙家浜镇久隆路7号13幢;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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