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龙图腾网获悉深圳市正通仁禾科技有限公司申请的专利一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119850636B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510340873.5，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备是由郭贵华;刘竞;徐勤设计研发完成，并于2025-03-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备，涉及图像处理领域。方法包括：获取显示面板所显示的初始图像；对初始图像进行离散余弦变换处理，以提取低频背景成分；基于奇异值分解算法对低频背景成分进行去噪处理，得到主要背景特征；通过多项式曲面拟合算法对主要背景特征进行拟合重构，得到背景重构图像；对背景重构图像进行对比度增强处理，得对背景增强图像；从初始图像中减去背景增强图像，得到差值图像；根据差值图像，确定MURA缺陷待测区域；通过预设的MURA缺陷检测模型对MURA缺陷待测区域进行识别处理，得到显示面板的MURA缺陷检测结果。通过上面的技术方案，本发明可以提高MURA缺陷检测精度。

本发明授权一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法及相关设备在权利要求书中公布了：1.一种基于背景重构的MURA缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取显示面板所显示的初始图像； 对所述初始图像进行离散余弦变换处理，以提取低频背景成分； 基于奇异值分解算法对所述低频背景成分进行去噪处理，得到主要背景特征； 根据所述主要背景特征构建用于曲面拟合的输入数据集； 基于所述输入数据集的结构和复杂程度，构建背景拟合多项式；所述背景拟合多项式的数学表达式包括： ； 其中，Bx,y为背景灰度值，表示在像素坐标x,y处的背景亮度；w k x,y是第k个子区域的权重函数；K是图像划分的子区域的总数；i,j分别为幂次；a ijk 表示第k个子区域中x i y j 项的系数；N k 表示第k个子区域的多项式阶数；λ为正则化系数；b ijk 为正则化交叉项的系数；β表示指数衰减系数；e是自然常数； 根据所述输入数据集，通过优化算法求解所述背景拟合多项式的系数，得到求解后的多项式模型； 基于所述求解后的多项式模型生成背景重构图像； 对所述背景重构图像进行对比度增强处理，得对背景增强图像； 从所述初始图像中减去所述背景增强图像，得到差值图像，所述差值图像用于突出MURA缺陷； 根据所述差值图像，确定MURA缺陷待测区域； 通过预设的MURA缺陷检测模型对所述MURA缺陷待测区域进行识别处理，得到所述显示面板的MURA缺陷检测结果，所述MURA缺陷检测结果包括MURA缺陷的存在性标志、位置坐标、面积及形态描述； 所述MURA缺陷检测模型的训练方式包括：构建包含正常样本与缺陷样本的平衡数据集；采用数据增强策略扩充数据集多样性；模型架构选用U-Net与注意力机制融合的编码器-解码器结构，编码器通过ResNet-50提取多尺度特征，解码器利用跳跃连接与空间金字塔池化模块融合局部细节与全局上下文信息，同时在跳跃连接中嵌入通道注意力模块，增强缺陷区域的特征响应；采用组合损失函数解决类别不平衡问题，并利用Adam优化器动态调整学习率，通过早停策略与交叉验证防止过拟合； 对于分类任务，所述MURA缺陷检测模型输出为二分类概率，采用交叉熵损失函数优化；对于定位任务，输出为像素级缺陷掩膜，采用Dice损失或边界加权损失函数强化边缘精度。

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