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龙图腾网获悉深圳市赛元微电子股份有限公司申请的专利IC芯片测试系统和测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119471329B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510060406.7，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权IC芯片测试系统和测试方法是由陈洲;翟冠杰;程君健设计研发完成，并于2025-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本IC芯片测试系统和测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种IC芯片测试系统和测试方法，其中测试系统主要包括测试控制单元、测试管理单元和测试执行单元，测试控制单元与测试管理单元之间通过网络连接，测试管理单元与测试执行单元之间通过集线器连接；测试执行单元包括烧录器和被测设备，烧录器的输入端连接至集线器，烧录器的输出端连接至被测设备，被测设备集成有不同型号IC芯片的功能板，功能板搭载若干外设驱动硬件电路。本发明可缩短芯片选型和验证周期，降低人力成本及软硬件配套成本。

本发明授权IC芯片测试系统和测试方法在权利要求书中公布了：1.一种IC芯片测试系统，其特征在于，包括： 测试控制单元、测试管理单元和测试执行单元，所述测试控制单元与所述测试管理单元之间通过网络连接，所述测试管理单元与所述测试执行单元之间通过集线器连接； 其中所述测试执行单元包括烧录器和被测设备，所述烧录器的输入端连接至所述集线器，所述烧录器的输出端连接至所述被测设备，所述被测设备集成有不同型号IC芯片的功能板，所述功能板搭载若干外设驱动硬件电路； 所述测试控制单元被配置为：根据所接收的外部输入向所述测试管理单元发送绑定或解绑所述被测设备的请求；向所述测试管理单元发送所述被测设备的信息和测试源代码工程文件；接收所述测试管理单元发送的测试结果； 所述测试管理单元被配置为：确定所述测试执行单元中所述被测设备的当前状态，若所述被测设备处于在线状态，再确定所述被测设备是否处于空闲状态；接收所述被测设备的信息和所述测试源代码工程文件；绑定或解绑所述被测设备；将所述测试源代码工程文件编译为可执行文件；控制所述烧录器烧录所述可执行文件；获取所述测试执行单元的测试结果；将所述测试结果发送至所述测试控制单元；其中确定所述被测设备是否处于空闲状态还包括：遍历所有USB设备，根据设备类型获取烧录器LinkID，通过所述烧录器读取连接设备的ICID，将LinkID和所述设备ICID组合唯一标识UID动态构建设备对象，将所述设备对象添加到被测设备列表，确定并标记被测设备状态；其中所述ICID为设备对应IC芯片名称，LinkID为所述烧录器标识；所述绑定所述被测设备包括：根据连接请求中ICID及IP:Port，在被测设备列表中查询ICID为空闲的设备，更新其状态为使用中，更新绑定对象为IP:Port，其中所述ICID为设备对应IC芯片名称，所述IP:Port为所述测试控制单元通过IP和Port进行唯一标识； 所述测试执行单元被配置为：根据烧录后的所述测试源代码工程文件执行对应的IC芯片测试过程。

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