中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所李昆获国家专利权
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龙图腾网获悉中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所申请的专利一种用于太赫兹测量系统纵向分辨力校准的一体式标准器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119619053B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411731611.3，技术领域涉及：G01N21/3581；该发明授权一种用于太赫兹测量系统纵向分辨力校准的一体式标准器是由李昆;崔派;刘佳;张子辰;刘婷婷;柴昊设计研发完成，并于2024-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于太赫兹测量系统纵向分辨力校准的一体式标准器在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于太赫兹测量系统纵向分辨力校准的一体式标准器，包括长方形上界面基板和台阶标准块，长方形上界面基板设置于台阶标准块上方，尺寸大于台阶标准块；台阶标准块的上端面加工成多个台阶，台阶高度规格对应太赫兹测量系统的纵向分辨力，长方形上界面基板与台阶标准块的台阶之间形成上下测量界面，通过太赫兹测量系统测量上下测量界面反射的太赫兹波，能够判断太赫兹测量系统是否具备与台阶高度规格对应的纵向分辨力；长方形上界面基板和台阶标准块的材质为天然或合成化合物经过成形和高温烧结制成的无机非金属陶瓷材料。本发明能够满足太赫兹测量系统对于纵向分辨力指标的测试与校准需求，确保测量结果的准确性和一致性。
本发明授权一种用于太赫兹测量系统纵向分辨力校准的一体式标准器在权利要求书中公布了：1.一种用于太赫兹测量系统纵向分辨力校准的一体式标准器，其特征在于，包括长方形上界面基板和台阶标准块，所述长方形上界面基板设置于所述台阶标准块上方，所述长方形上界面基板的尺寸大于所述台阶标准块； 所述台阶标准块的上端面加工成多个台阶，台阶高度规格对应太赫兹测量系统的纵向分辨力，所述长方形上界面基板与所述台阶标准块的台阶之间形成上下测量界面，通过所述太赫兹测量系统测量上下测量界面反射的太赫兹波，提取两者飞行时间差值，能够判断所述太赫兹测量系统是否具备与台阶高度规格对应的纵向分辨力； 所述长方形上界面基板和所述台阶标准块的材质为天然或合成化合物经过成形和高温烧结制成的无机非金属陶瓷材料； 所述长方形上界面基板上下表面的表面粗糙度≤0.2μm、平面度≤1μm、平行度≤3μm；所述台阶标准块的上下表面的表面粗糙度≤0.2μm、平面度≤1μm、平行度≤3μm。
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