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龙图腾网获悉广州东驰电子科技有限公司申请的专利一种LED屏生产质量检测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118886605B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410972219.1，技术领域涉及：G06Q10/063；该发明授权一种LED屏生产质量检测方法及系统是由胡勇;王超;胡灿;郭蓉;胡蓉设计研发完成，并于2024-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种LED屏生产质量检测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种LED屏生产质量检测方法及系统，具体涉及LED屏质量检测领域，包括以下步骤：预设LED屏生产质量检测项目，并配置对应的检测设备进行检测；对核验通过的LED屏进行抽样检测，判断检测设备的检测精度是否不足；若存在隐患，则进行异常分析，得到偏差异常指数和一致性异常指数；综合分析生成综合检测质量系数，将设备划分为低质量或高质量运行状态；对低质量运行状态的设备，应用模糊推理决策优化方式；本发明能够全面评估检测设备的检测结果，兼顾了检测结果的一致性和准确性，能够更真实、全面地反映检测设备的运行状态，在复杂多变的检测环境中保持较高的决策准确性和稳定性，确保检测设备始终处于最佳运行状态。

本发明授权一种LED屏生产质量检测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种LED屏生产质量检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 预先设定LED屏生产质量的检测项目，然后根据预先设定的LED屏生产质量的检测项目配置对应的检测设备，使用检测设备对LED屏生产质量进行其对应检测项目的检测工作； 对不同的检测设备的核验通过的LED屏进行抽样检测，并根据抽样检测结果初步判断当前的检测设备是否存在检测精度不足的隐患； 若当前的检测设备存在检测精度不足的隐患，则对当前的检测设备进行异常分析，得到偏差异常指数和一致性异常指数； 基于偏差异常指数和一致性异常指数，进行综合分析，生成综合检测质量系数，根据综合检测质量系数将当前的检测设备划分为低质量运行状态和高质量运行状态； 针对低质量运行状态的检测设备，决策其需要进行优化的方式； 偏差异常指数的获取逻辑为： 在固定的时间窗口内，收集当前的目标检测设备的所有检测数据，得到时间序列X：X1,X2,…,Xn；n为检测数据的总数量，并且获取基准值数据序列B:B1,B2,…,Bm；m为基准值数据的总数量，m、n数值相同，计算每个检测数据对应的偏差值，偏差值通过序列编号相同的基准值数据减去检测数据得到，然后计算每个检测数据对应的绝对偏差值，绝对偏差值为偏差值的绝对值，接着进行标准化处理，最终使用加权平均法计算偏差异常指数，计算公式为：DAI为偏差异常指数，|Zi|为序列编号为i的检测数据对应的绝对偏差值，Wi为绝对偏差值|Zi|的比例系数； Wi通过以下方式确定： 一致性异常指数的获取逻辑为： 在固定的时间窗口内，收集当前的目标检测设备的所有检测数据，得到时间序列X：X1,X2,…,Xn；n为检测数据的总数量，使用LOF算法计算每个样本即每个检测数据的LOF得分，计算所有样本的LOF得分的均值、标准差，以及绝对中位差，然后计算一致性异常指数，计算公式为： MAD为绝对中位差，μD为所有样本的LOF得分的均值，σD为所有样本的LOF得分的标准差，CAI为一致性异常指数； 针对低质量运行状态的检测设备，决策其需要进行优化的方式指的是： 分别获取一致性异常指数、偏差异常指数、综合检测质量系数，应用模糊推理，定义一致性异常指数、偏差异常指数、综合检测质量系数为输入变量，定义输出变量为需要进行优化的方式，对输入变量模糊化处理，将输入变量的值转换为模糊集合，对输出变量模糊化处理，将输出变量转换为模糊集合，制定模糊规则，描述不同数据种类组合下的优化需求，将模糊化后的输入变量通过模糊规则进行推理，判断需要进行优化的方式。

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