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龙图腾网获悉中国航空综合技术研究所申请的专利基于性能模型的系统测试性分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116976134B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310996050.9，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权基于性能模型的系统测试性分析方法是由王鑫;徐文正;高昊;张蛟龙设计研发完成，并于2023-08-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于性能模型的系统测试性分析方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于性能模型的系统测试性分析方法，涉及设备故障诊断技术领域，包括：系统测试性建模信息收集；以单元级为对象，建立单元性能模型；以系统级为对象，建立系统性能模型；系统性能故障模型构建；系统测试性建模；根据测试性模型开展测试性仿真分析。本发明开展复杂系统的仿真建模与测试性设计分析，可以实现测试性与系统物理架构及参数设计强相关，实现故障的检测与定位。

本发明授权基于性能模型的系统测试性分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于性能模型的系统测试性分析方法，其特征在于，包括： S1，系统测试性建模信息收集；系统测试性建模信息包括硬件故障模式、故障测点位置及硬件故障模式对应的故障输出检测判据； S2，以单元级为对象，建立单元性能模型；以系统级为对象，建立系统性能模型； S3，系统性能故障模型构建：S31：对系统进行分层；S32：以单元性能模型为基础，构建单元性能故障模型；S33：以系统性能模型为基础，构建系统性能故障模型；S34：元器件或零件之间由于耦合导致的失效建模；S35：故障触发控制； S4，系统测试性建模： S41，单元测试性模型构建：在性能故障模型基础上，基于所述硬件故障模式，结合所述故障测点位置及硬件故障模式对应的故障输出检测判据，建立单元测试性模型： 以ti＝{ti1,ti2,…,tin}表示第i个单元的测点，n表示第i个单元的测点的数量，对应地，以yi＝{yi1,yi2,…,yin}表示第i个单元的测点的输出，其中，yi的输出范围为即yi的输出范围为当yi＝{yi1,yi2,…,yin}在正常输出范围时，判定为第i个单元输出正常； 以fi＝{fi1,fi2,…,fij,…,fid}表示第i个单元的硬件故障模式，d为第i个单元的硬件故障模式的数量，fij发生后导致输出量yih＝{yi1,yi2,…,yih}发生变化，其中，h表示为第i个单元的输出中与硬件故障模式fij相关的检测量；h≤n，故障触发后的表征量为通过yifj对硬件故障模式fij进行检测和判定； S42，系统测试性模型构建：基于单元测试性模型，进行集成，构建系统测试性模型： 以Yi＝{Y1,Y2,…,Yk}表示系统的输出，k为系统输出的数量，以T＝ {T1,T2,…,Tk}表示对应的测点信息，为测点的输出范围；F＝{F1,F2,…,Fl}表示系统内单元间的硬件故障模式，l为硬件故障模式的数量； 对测点故障阈值进行表征，Fi触发时，对应的测点有Ti＝{T1,T2,…,Ts},输出故障表征量为通过YFi判定Fi的状态； S5，根据测试性模型开展测试性仿真分析：基于单元测试性模型和系统测试性模型，对硬件故障模式进行遍历，依据测点的输出范围判定硬件故障模式是否发生，并计算故障检测率。

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