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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116320385B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310300911.5，技术领域涉及：H04N17/00；该发明授权一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法是由余达;吕恒毅;司国良;张宇;孙雪晨;邵帅设计研发完成，并于2023-03-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法在说明书摘要公布了：一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法，涉及探测器的非均匀校正技术领域，解决现有进行探测器非均匀校正时，当校正系数和输入图像存在偏差时，无法检测出来等问题，本发明的校正系统包括TDICMOS探测器、成像控制器、积分球、图像数据采集及处理器和温度控制器；检测方法根据输入并行图像数据的位宽来设置乘积校正系数小数部分和加减校正系数的位宽，根据获取图像的最大与最小值相差倍数来设置一次乘积校正系数的整数部分位宽；在校验检测过程中容忍1个DN值的偏差，但在相邻的校正系数中设置计算结果超过1DN的系数值。

本发明授权一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法在权利要求书中公布了：1.一种探测器的非均匀校正参数设置及检测方法，该方法通过TDICMOS数据校正系统实现，其特征是：根据TDICMOS探测器并行图像数据的位宽n设置乘积校正系数的小数部分和加减校正系数c的位宽，所述乘积校正系数由二次校正系数a和一次校正系数b组成； 成像控制器校正后输出图像的校正公式为： y＝ax2+bx+c 式中，x为输入图像的DN值，y为校正后图像的DN值； 则二次校正系数a的小数部分所占二进制位数为2n，正负符号占1bit，整数部分占1bit；加减校正系数c正负符号占1bit，整数部分所占二进制位数为n；一次校正系数b的小数部分所占二进制位数为n+1，整数部分所占二进制位数为k，即要求整数部分代表的十进制数大于采集得到的最大图像DN值DNmax与最小图像DN值DNmin的比值； 非均匀校正过程正确性的检测过程为： 步骤一、设定输入图像的DN值x为恒定的2n-1，二次校正系数a和一次校正系数b均为0，加减校正系数c的取值从-2n到2n逐位变化1进行循环变化；检测校正后的图像DN值y是否正确； 步骤二、设定输入图像的DN值x为恒定的2n-1，加减校正系数c和一次校正系数b均为0，二次校正系数a的取值从到进行循环变化，逐位变化检测校正后的图像DN值y是否正确； 步骤三、设定输入图像的DN值x为恒定的2n-k-1，加减校正系数c和二次校正系数a均为0，一次校正系数b的取值从到进行循环变化，逐位变化检测校正后的图像DN值y是否正确； 步骤四、设定输入图像的DN值x为的取值从2n-1到进0行循环变化，逐位变化1；二次校正系数a的取值从到进行循环变化，逐位变化一次校正系数b的取值从到进行循环变化，逐位变化c的取值从-2n到2n逐位变化1进行循环变化；检测校正后的图像DN值y是否正确。

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