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龙图腾网获悉中国空空导弹研究院申请的专利一种电阻阵列辐射特性低温背景测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116125142B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211341390.X，技术领域涉及：G01R27/08；该发明授权一种电阻阵列辐射特性低温背景测试方法是由赵松庆;陈海燕;张帆;李睿;郝燕云设计研发完成，并于2022-10-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种电阻阵列辐射特性低温背景测试方法在说明书摘要公布了：一种电阻阵列辐射特性低温背景测试方法，应用于电阻阵列辐射特性测试装置，该测试装置能够将像方冷光阑的中间像成像在物方冷光阑上，使像方冷光阑真正起到了遮挡电阻阵列和红外探测器之间环境热散辐射的作用，避免热散辐射被红外探测器所敏感，产生热噪声。由于物方冷光阑遮挡了像方冷光阑之外的热部件所产生的热辐射光束，因此能够防止该热辐射光束被电阻阵列表面反射，并在红外探测器上形成非均匀性冷反图像。本发明的测试方法排除了热噪声、冷反现象、以及等效黑体辐射温度对辐射特性测试造成的负面影响，实现了对MOS电阻阵列目标模拟器的准确测试，从而为MOS电阻阵列目标模拟器产生的红外场景图像提供了重要的参考依据。

本发明授权一种电阻阵列辐射特性低温背景测试方法在权利要求书中公布了：1.一种电阻阵列辐射特性低温背景测试方法，其特征是：应用于电阻阵列辐射特性测试装置，所述电阻阵列辐射特性测试装置包括热像仪本体、测试镜头、电阻阵列和黑体；其中，测试镜头安装在热像仪本体上，热像仪本体具有红外探测器和像方冷光阑，测试镜头由前置成像镜组、后置成像镜组和镜筒构成，在测试镜头与电阻阵列之间设置有物方冷光阑；热像仪本体和测试镜头安装在旋转台上，黑体以旋转台的轴心为圆心，呈扇形阵列排布； 所述测试方法包括以下步骤： S1：调整前置成像镜组和后置成像镜组，使电阻阵列的热图像成像于红外探测器阵面上，并使像方冷光阑成像于物方冷光阑上； S2：前后调整物方冷光阑的位置，使物方冷光阑与像方冷光阑的像重合，以遮挡成像光路之外的热辐射光束，防止该热辐射光束入射电阻阵列表面，在红外探测器上形成非均匀性冷反图像； S3：使用辐射温度计和黑体对电阻阵列辐射特性测试装置进行标定； S4：对电阻阵列的辐射特性进行测试，得到电阻阵列的背景等效黑体温度。

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