西安近代化学研究所徐敏获国家专利权
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龙图腾网获悉西安近代化学研究所申请的专利基于图特征的混合材料均匀性与孔隙率计算方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115641342B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211122025.X，技术领域涉及：G06T7/11；该发明授权基于图特征的混合材料均匀性与孔隙率计算方法及装置是由徐敏;李晨;胡伟明;宁艳利;宋秀铎;赵娟;高朗华设计研发完成，并于2022-09-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于图特征的混合材料均匀性与孔隙率计算方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种基于图特征的混合材料均匀性与孔隙率计算方法，包括：对混合材料的CT图像进行一次阈值分割，获取固体颗粒区域；确定固体颗粒区域中的每个固体颗粒的位置；基于每个固体颗粒的位置确定多个Delaunay三角形；根据多个Delaunay三角形的边长确定图特征；根据图特征确定混合材料的均匀性；对混合材料的CT图像进行二次阈值分割，获取高分子材料主体区域，高分子材料主体区域中包括多个孔隙所在区域；根据多个孔隙所在区域的像素个数和高分子材料主体区域的像素个数确定混合材料的孔隙率。本申请的基于图特征的混合材料均匀性与孔隙率计算方法，能够实现混合材料均匀性与孔隙率的自动准确获取，且计算速度较快。
本发明授权基于图特征的混合材料均匀性与孔隙率计算方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种基于图特征的混合材料均匀性与孔隙率计算方法，其特征在于，包括： 对混合材料的CT图像进行一次阈值分割，获取固体颗粒区域；所述混合材料为高分子材料和多个固体颗粒的混合，所述固体颗粒区域为所述多个固体颗粒所在区域； 确定所述固体颗粒区域中的每个所述固体颗粒的位置； 基于每个所述固体颗粒的位置确定多个Delaunay三角形； 根据所述多个Delaunay三角形的边长确定图特征； 根据所述图特征确定所述混合材料的均匀性； 对所述混合材料的CT图像进行二次阈值分割，获取高分子材料主体区域，所述高分子材料主体区域中包括多个孔隙所在区域； 确定所述多个孔隙所在区域的像素个数以及所述高分子材料主体区域的像素个数； 根据所述多个孔隙所在区域的像素个数和所述高分子材料主体区域的像素个数确定所述混合材料的孔隙率。
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