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龙图腾网获悉中国航天科工集团八五一一研究所申请的专利一种天波雷达跟踪效果评估方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115436890B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211033637.1，技术领域涉及：G01S7/40；该发明授权一种天波雷达跟踪效果评估方法是由朱伟强;杨蔚;陈迪;冀贞海;方维海;杨佳敏;李贵显设计研发完成，并于2022-08-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种天波雷达跟踪效果评估方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种天波雷达跟踪效果评估方法，基于“探测路径建模—回波数据预处理—目标跟踪处理”三阶段级联评估，来评估天波雷达跟踪效果。通过分别评估每个阶段各种影响因素进而获得每个阶段的效果，最终根据每阶段评估效果获得总体评估，可以更加全面有效地评估天波雷达目标跟踪的效果。本发明针对天波雷达目标跟踪的各个过程分别来进行效果评估，并将三个阶段的评估结果进行整体的综合评估，不仅保证了评估结果的综合性和准确性，更能进一步得知目标跟踪结果的误差具体来源于哪个阶段，从而更有利于天波雷达目标跟踪的改进。

本发明授权一种天波雷达跟踪效果评估方法在权利要求书中公布了：1.一种天波雷达跟踪效果评估方法，其特征在于，步骤如下： 步骤一：对天波雷达探测路径进行建模； 步骤二：对基于天波雷达探测路径的预处理能力进行评估； 步骤三：基于预处理的跟踪结果进行评估； 其中，天波雷达传播路径P的长度包括依次连接的直线AB、弧BC、直线CD，地面路径D的长度为弧AD，天波雷达传播路径P和地面距离D经积分可得： 其中，n为r处的电磁波折射率；β为r处电磁波的入射余角；r0为地球半径；β0为发射仰角，rt为射线反射顶点到地心的距离；st为发射点到反射顶点的路径长度，θt为反射顶点对应的入射角； 当不考虑地磁场的影响，忽略电子与分子、离子之间的碰撞效应时，n为： 式中，等离子体角频率fp为等离子体频率，e、Ne、me分别为电子电荷、电子数密度和电子质量，f为发射频率，θ0为雷达电磁波入射角，ε0为真空介电常数，ω为雷达的工作频率； 再对式3求导，得天波雷达传播路径P对电离层电子数密度Ne的偏导数： 分析式5，路径的变化率与射线反射顶点到地心的距离rt和对应的电子数密度Ne有关，进而与雷达本身的探测能力有关，对雷达跟踪效果的评估，从以下方面入手： A去异常数据评估 由于电离层的动态变化，在评估时对异常数据的评分为b21，取值在0～1之间，异常数据越少，评分越高； B测量误差评估 通常情况下，测量误差用b22表示，取值在0～1之间，误差越小评分越高； 总体的评估值表示为a12＝0.95b22+0.05b21； C由P-D变换得到的背向散射图评估 通过在雷达测量范围附近建立信号收发系统，并通过天波雷达向收发系统发送信号，并接收其回波，测量出频率连续改变的信号时延，即可得到电离层的背向散射图，即利用公式5计算背向散射图，其评测结果用a13＝min{k13,e3}表示，其中k13为背向散射图数据是否存在的标准，若垂测图数据存在，k13＝1，此时电离层建模可靠，若垂测图数据不存在，k13＝0.8，此时电离层建模不可靠；e3为背向散射图的准确性评测结果，取值常为0.9以上； 由于电离层垂测图和背向散射图是相连的两个过程，因此电离层建模的总评估值a1为：a1＝a11*a12*a13，若a1的数值在0.8以上，证明天波雷达探测能力优良，若在0.8以下，说明电离层的模型数据还需要进一步精确测量。

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