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龙图腾网获悉江苏科技大学申请的专利基于标定板厚度补偿的2D-DIC全场变形测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115222824B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210925986.8，技术领域涉及：G06T7/80；该发明授权基于标定板厚度补偿的2D-DIC全场变形测量方法是由于姗姗;朱程鹏;李小娟;竺明星设计研发完成，并于2022-08-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于标定板厚度补偿的2D-DIC全场变形测量方法在说明书摘要公布了：本发明涉及非接触式图像测量技术领域，具体地说，是一种基于标定板厚度补偿的2D‑DIC全场变形测量方法，与现有技术相比，本发明更准确地描述了被测表面到像素平面的单应性关系，提高了2D‑DIC的测量精度，同时本发明采用允许标定板不理想共面的PnP算法解算标定板空间姿态，比既有的通过H矩阵分解求解外参的方法具有更好的适用性。

本发明授权基于标定板厚度补偿的2D-DIC全场变形测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于标定板厚度补偿的2D-DIC全场变形测量方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：采用张正友方法对单相机内参以及镜头畸变参数进行标定； S2：以初始时刻计算图为参考图，设置计算区域ROI，采用2D-DIC方法匹配变形后图像子区与参考图子图，由此得到ROI范围内各计算点变形前后的像素坐标； S3：基于S1标定的畸变参数对计算点变形前后的像素坐标进行去畸变处理； S4：将标定板紧贴被测平面，确保标定板的长宽方向与被测面的水平和竖向位移方向一致，采集一张图片，基于该图片采用PnP方法计算标定板在相机坐标系下的空间姿态参数[RT]； S5：根据标定板厚度D校正该标定板外参为[R'T']； S6：基于[R'T']计算考虑标定板厚度的单应性关系矩阵H'； S7：通过H'将S3得到的去畸变后的像素坐标ROI范围内各计算点变形前后的像素坐标转化到世界坐标，做差得到位移场； S8：基于S6得到位移场，通过局部最小二乘法拟合应变场； 在所述S5中根据标定板厚度D校正该标定板外参为[R'T']，具体过程如下： 在被测面上建立世界坐标Xm-Ym-Zm，设定该平面上点P的世界坐标PmXm,Ym,0，在被侧面上建立世界坐标XM-YM-ZM，点P从XM-YM-ZM坐标系到Xw-Yw-Zw坐标系的旋转和平移矩阵R1T1表达式为： 通过相机内参A和镜头畸变参数Kk1,k2,k3,k4,k5,k6,p1,p2，借助PnP方法，得到从坐标系Xw-Yw-Zw到像光心坐标系的旋转和平移矩阵为[R0T0]，则点P在光心坐标系下的坐标表示为： 内参和畸变参数是通过OpenCV自带的标定函数求解，则畸变是施加在归一化的光心坐标系下的，点P的归一化坐标是： 考虑镜头畸变的坐标是： 相应的像素坐标是： 由u，v得到x”，y”是一个线性变化，然而由x”，y”得到x'，y'是一个非线性迭代的过程，直接采用OpenCV里的undistortPoints函数直接求解： x',y'＝undistortPointsu,v,A,K7 所述S6，基于[R'T']计算考虑标定板厚度的单应性关系矩阵H'，通过公式3、公式4和公式8，正则化的光心坐标系和被测结构表面坐标系之间可以采用一个单应性矩阵H'表示：

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