上海城建城市运营(集团)有限公司;上海市政养护管理有限公司;同济大学宋瑞庆获国家专利权
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龙图腾网获悉上海城建城市运营(集团)有限公司;上海市政养护管理有限公司;同济大学申请的专利合成孔径雷达角反射器散射特性估计新方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115184884B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210849253.0，技术领域涉及：G01S7/40；该发明授权合成孔径雷达角反射器散射特性估计新方法是由宋瑞庆;金恩;彭崇梅;张香;伍吉仓;吴铭飞;马明雷;包亚敏设计研发完成，并于2022-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本合成孔径雷达角反射器散射特性估计新方法在说明书摘要公布了：本发明属于空间对地观测领域，提出了一种合成孔径雷达角反射器散射特性估计新方法。本发明的方法采用了未安装CR前的SAR影像，排除了CR反射信号对真实背景强度估算的干扰；同时选取了采样窗口内统计分布相同的像素点，计算其平均值作为背景强度，可有效排除窗口内的异常像素；同时充分利用CR反射信号在SAR影像中的空间分布特征，有利于提取到CR的真实反射强度。本发明的方法可适用于各类场景，均可获取更加符合真实情况的RCS值和SCR值。
本发明授权合成孔径雷达角反射器散射特性估计新方法在权利要求书中公布了：1.一种合成孔径雷达角反射器散射特性估计新方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1，采用多景未安装CR的SAR影像，并利用所述CR的地理坐标反算其在影像中的像素位置； 步骤S2，以反算的所述像素位置为中心，在未安装CR的强度影像中截取合适大小窗口的子块窗口，并进行绝对校正，从而获取每个像素的后向散射强度值σ0； 步骤S3，以所述子块窗口的中心像素的所述后向散射强度值σ0的时间序列为参考样本，利用两样本的K-S假设检验法对所述子块窗口内的其余像素的时序样本进行检验； 步骤S4，将通过检验的所述像素看作一个SHP点，计算所有的所述SHP点的平均强度值ESHP，从而估计背景反射强度； 步骤S5，采用安装CR后的SAR影像，以所述SAR影像中的CR强度峰值所在像素为中心，选取预定尺寸的目标窗口，并扣除所述目标窗口的背景强度，从而获取所述CR真实的反射强度ECR； 步骤S6，基于所述平均强度值ESHP和所述反射强度ECR计算RCS值和SCR值，并分析所述RCS值在时间上的稳定性，从而评估所述CR状态的稳定性，排除异常数据。
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