深圳大普微电子科技有限公司曹学明获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳大普微电子科技有限公司申请的专利一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114300032B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111626136.X，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘是由曹学明;杨颖设计研发完成，并于2021-12-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘在说明书摘要公布了：本发明涉及数据存储领域，主要提供一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘，应用于固态硬盘。通过获取存储介质的操作数据，并根据操作数据获取存储介质的错误计数信息，然后根据错误计数信息检测是否触发对存储介质的失效诊断，当确定对存储介质进行失效诊断时，从存储介质的若干闪存块中获取已经执行写操作的闪存块，并对已经执行了写操作的闪存块执行读操作，最后根据读操作的结果检查存储介质是否失效。本发明通过对已经执行过了写操作的闪存块进行诊断，实现了在不影响固态硬盘性能的条件下，对存储介质中的存储介质进行失效诊断，从而避免了因检查存储介质失效不及时而导致的固态硬盘数据丢失和出现宕机，提高了固态硬盘的稳定性。
本发明授权一种检查存储介质失效的方法、装置和固态硬盘在权利要求书中公布了：1.一种检查存储介质失效的方法，应用于固态硬盘，所述固态硬盘的存储介质包括若干个闪存块，其特征在于，所述方法包括： 获取所述存储介质的操作数据，并根据所述操作数据获取所述存储介质的错误计数信息； 根据所述错误计数信息检测是否触发对所述存储介质的失效诊断； 当确定对所述存储介质进行失效诊断时，对已经执行了写操作的所述闪存块执行读操作，对未执行过写操作的闪存块跳过不进行失效诊断； 根据所述读操作的结果检查所述存储介质是否失效； 其中，所述对已经执行了写操作的所述闪存块执行读操作，具体包括： 根据端口的带宽压力从已经执行了写操作的闪存块中确定执行读操作的闪存块的数量，并对确定的所述闪存块执行读操作，其中，所述端口包括所述存储介质的IO接口，所述IO接口的压力越大，所述读操作的个数越多。
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